[发明专利]光学测量系统及提高光学测量系统成像质量的方法

摘要

发明公开了一种光学测量系统及提高大口径光学测量系统成像质量的方法。大口径光学测量系统由望远镜子系统和转台控制子系统组成。本发明中，为大口径光学测量系统增加了镜筒遮光罩子系统，并预先将镜筒遮光罩子系统设置于望远镜子系统外壁并半包裹，并沿镜筒视轴方向具有滑移性，并以镜筒视轴为轴心转动；根据实时获取的镜筒视轴方位角、镜筒视轴俯仰角、杂散光光源相对转台控制子系统的方位角、杂散光光源相对转台控制子系统的俯仰角以及镜筒直径，计算镜筒遮光罩子系统的调节参数；按照计算得到的调节参数驱动镜筒遮光罩子系统遮挡杂散光光源辐射至镜筒的杂散光。应用本发明，可以提高成像质量。

主权项

一种光学测量系统，其特征在于，该光学测量系统包括：望远镜子系统、转台控制子系统以及镜筒遮光罩子系统；望远镜子系统，用于对空间目标对象进行光学特性跟踪测量，获取跟踪图像；转台控制子系统，用于对望远镜子系统输出的跟踪图像进行分析，根据分析结果调整望远镜子系统中镜筒的成像参数，以使望远镜子系统对目标对象保持跟踪；镜筒遮光罩子系统，设置于望远镜子系统外壁并半包裹望远镜子系统，沿望远镜子系统中的镜筒视轴方向具有滑移性，并以镜筒视轴为轴心转动；根据实时从望远镜子系统获取的镜筒视轴方位角、镜筒视轴俯仰角、杂散光光源相对转台控制子系统的方位角、杂散光光源相对转台控制子系统的俯仰角以及镜筒直径，计算镜筒遮光罩子系统的调节参数，并按照计算得到的调节参数驱动镜筒遮光罩，以使镜筒遮光罩遮挡杂散光光源辐射至镜筒的杂散光。