[发明专利]一种裸芯片冲击振动试验夹具及裸芯片的装夹方法有效

专利信息
申请号: 201310589124.3 申请日: 2013-11-21
公开(公告)号: CN103575486A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 肖勇兵;苏亚慧 申请(专利权)人: 华东光电集成器件研究所
主分类号: G01M7/00 分类号: G01M7/00
代理公司: 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 34113 代理人: 杨晋弘
地址: 233042 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及一种裸芯片冲击振动试验夹具及裸芯片的装夹方法,包括矩形的夹具体(2),其特征在于:在夹具体的上表面设有承载裸芯片的平面(2a);在夹具体侧面设有一组固定裸芯片的凹槽(2b);在夹具体的下表面设有与载物台(1)配合的支撑平面(2c)。该方法包活:在夹具体的承载平面上或凹槽内抹胶(3);在夹具体抹胶的表面粘接裸芯片(4);裸芯片粘接在夹具体上后进行胶的固化。本发明的优点:本装置结构简单,易于加工,试验效果好;在使用本方法进行冲击或振动试验时,能有效保护裸芯片,使其不受污染和损伤。
搜索关键词: 一种 芯片 冲击 振动 试验 夹具 方法
【主权项】:
一种裸芯片冲击振动试验夹具,包括矩形的夹具体(2),其特征在于, a、在夹具体(2)的上表面设有承载裸芯片的平面(2a);b、在夹具体(2)侧面设有一组固定裸芯片的凹槽(2b);c、在夹具体(2)的下表面设有与载物台(1)配合的支撑平面(2c)。
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