[发明专利]紫外线灯的劣化检测装置及方法有效
申请号: | 201310594560.X | 申请日: | 2013-11-21 |
公开(公告)号: | CN103837231B | 公开(公告)日: | 2017-05-17 |
发明(设计)人: | 小泉佳代;山越裕司 | 申请(专利权)人: | 株式会社日本光电科技 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人: | 何立波,张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种紫外线灯的劣化检测装置,其具有检测可见光线的光强度的可见光区域用的光检测器,利用该光检测器对从封入水银及惰性气体而成的紫外线灯而与紫外线一起放射的可见光线进行受光,并检测其光强度。如果由于灯的劣化导致水银量减少,则惰性气体的能量为了可见光线的发光而被更多地消耗,可见光线的发光强度增加。因此,通过判定例如检测出的可见光的强度是否超过了规定阈值,从而能够检测紫外线灯的劣化。由此,无需使用高价的紫外线传感器,通过使用低价的可见光传感器检测伴随灯内有效水银量减少而导致的可见光增加,从而能够对紫外线灯的劣化进行适当地检测,因此,能够与紫外线放射量的下降相对应,适当地进行更换灯的必要性的通知。 | ||
搜索关键词: | 紫外线 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种紫外线灯的劣化检测装置,其特征在于,具有可见光区域用的光检测器,其检测可见光线的光强度,利用所述光检测器,对从封入水银及惰性气体而成的紫外线灯与紫外线一起放射的可见光线进行受光,基于由该光检测器受光的可见光线的光强度超过规定的阈值,检测所述紫外线灯的劣化。
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