[发明专利]一种精确表征功率晶体管匹配特性的方法

摘要

本发明公开了一种精确表征功率晶体管匹配特性的方法，特征是通过控制测试仪器内部两个信号源的相对相位，实现被测功率晶体管输入/输出阻抗值的变化，从而测量出被测件在不同阻抗条件下的增益、输出功率等主要性能指标；测试结果间接给出了晶体管封装为放大器时匹配电路的主要参数和在最佳匹配状态下晶体管能够达到的主要性能参数。本发明具有覆盖频率范围宽，测试速度快，并可实现被测件输入输出阻抗在整个阻抗圆图内变化的特点；还可用于输入输出阻抗为非50欧姆晶体管的参数测量。

主权项

一种精确表征功率晶体管匹配特性的方法，其特征在于通过控制测试仪器内部两个信号源的相对相位，将测试仪器内置的两个信号源，一个作为参考源，另一个作为被控源；在对被测晶体管进行测试时，参考源输出的A1信号是驱动被测功率晶体管工作的大信号，被控源输出的A2小信号作为反向入射波加到被测功率晶体管的输出端口；在一个固定频率点时，保持A2信号的幅度不变，对它的相位进行旋转，被测功率晶体管正向输出波B2的响应也会随着变化，这样就相当于给被测功率晶体管输出端口提供了稳定可控的阻抗值；实现被测晶体管输入/输出端阻抗在整个阻抗圆图内的连续变化，从而得出功率晶体管的最佳匹配状态，测量出被测功率晶体管在不同阻抗条件下的包括增益、输出功率在内的主要性能指标；同时还采用多阶环路来提高整个频带的带宽，提高整个输出频段的功率平坦度。