[发明专利]基于数值反演的无损检测模拟试块缺陷参数的识别方法有效
| 申请号： | 201310603258.6 | 申请日： | 2013-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN103604869A | 公开（公告）日： | 2014-02-26 |
| 发明（设计）人： | 张俊;李晓红;丁辉;史亚琨 | 申请（专利权）人： | 武汉大学 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 张火春 |
| 地址： | 430072 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于数值反演的无损检测缺陷参数识别方法，通过超声和射线等传统无损检测方法识别缺陷长度和位置参数，获得实测的缺陷回波幅值；设定缺陷自身高度和偏转角度的初始范围，采用检测超声回波计算模型模拟不同自身高度和不同偏转角度的缺陷回波幅值；以实测的缺陷回波幅值和模拟的缺陷回波幅值的差异为目标函数，采用反演算法在缺陷自身高度和偏转角度的初始范围内寻找最优的自身高度和偏转角度值。本发明基于数值反演可获得传统无损检测方法无法获得的缺陷自身高度和偏转角度参数，从而可为无损检测模拟缺陷提供全面的尺寸和位置信息；同时，适用于检测方式受限的复杂结构试块。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 数值 反演 无损 检测 模拟 缺陷 参数 识别 方法 | ||
【主权项】：
基于数值反演的无损检测模拟试块缺陷参数的识别方法，其特征在于，包括步骤：步骤1，采用无损检测方法获取模拟试块缺陷的长度、水平位置和深度参数，采用超声检测法获得模拟试块缺陷的缺陷回波动态曲线，并获得缺陷的回波幅值矩阵EA；步骤2，根据模拟试块缺陷的设计方案和缺陷制作工艺确定缺陷自身高度的初始范围，利用超声相控阵确定模拟试块缺陷偏转角度的初始范围；步骤3，采用检测超声回波计算模型模拟不同自身高度和不同偏转角度的缺陷的回波动态曲线，并获得一系列回波幅值矩阵SA，所述的不同自身高度和不同偏转角度均属于各自的初始范围；步骤4，根据步骤3获得的模拟回波幅值和步骤1获得的实测回波幅值的差异构建数值反演的目标函数，基于目标函数进行数值反演寻找全局最优解，从而获得模拟试块缺陷的自身高度值和偏转角度值。
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