[发明专利]日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法无效

专利信息
申请号: 201310606317.5 申请日: 2013-11-25
公开(公告)号: CN103616163A 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 闫丰;崔穆涵;章明朝;陈雪;周跃;隋永新 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 陶尊新
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法,涉及滤光片参数测试领域,解决现有带外深度截止滤光片的截止深度无法测试的问题,本发明包括:一、提供衰减系数为k的衰减片;二、探测光源通过日盲紫外滤光片的输出电信号;三、根据通过所述日盲紫外滤光片的所述输出电信号的量级选择衰减片片数N并将其叠加使用,探测光源通过衰减片的输出电信号;四、计算滤光片带外截止深度。该测试方法简单,测试动态范围大且精度高,可广泛运用于滤光片的截止深度测试。
搜索关键词: 紫外 滤光 片带外 截止 深度 测试 方法
【主权项】:
日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法,其特征是,该方法由以下步骤实现:步骤一、选择衰减片系数为k的衰减片;步骤二、光源通过滤光片后的光信号由探测器接收,所述探测器将接收的光信号转换为电信号If,并根据电信号If选择衰减片的片数N,步骤三、光源通过衰减片后的光信号由探测器接收并将光信号转换为电信号Ia;步骤四、根据步骤一、步骤二和步骤三分别获得的衰减片系数k、衰减片的片数N、电信号If以及电信号Ia,计算滤光片带外截止深度: τ f = I f I a · k N .
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310606317.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top