[发明专利]应用于托卡马克装置的高精度磁场倾斜角测量系统在审
| 申请号： | 201310611508.0 | 申请日： | 2013-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN104678330A | 公开（公告）日： | 2015-06-03 |
| 发明（设计）人： | 余德良;魏彦玲;刘亮;陈文锦 | 申请（专利权）人： | 核工业西南物理研究院 |
| 主分类号： | G01R33/032 | 分类号： | G01R33/032 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 高尚梅 |
| 地址： | 610041 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于磁约束等离子体诊断领域，具体涉及一种基于偏振片和光谱仪的磁场倾斜角的测量系统。它包括4个光学准直透镜、4个偏振片、光纤、光谱仪、CCD相机和数据采集控制系统，4个光学准直透镜通过光纤连接光谱仪，光谱仪与CCD相机连接，CCD相机与数据采集控制系统连接，每个光学准直透镜前设置有一个偏振片。本发明的优点是，系统的可靠性好，测量精度也非常高，既适用于等离子体磁场偏转角的测量，也适用于其他线偏振光偏振方向的高精度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 应用于 马克 装置 高精度 磁场 倾斜角 测量 系统 | ||
【主权项】：
应用于托卡马克装置的高精度磁场倾斜角测量系统，它包括4个光学准直透镜（5）、4个偏振片（4）、光纤（6）、光谱仪（7）、CCD相机（8）和数据采集控制系统（9），其特征在于：4个光学准直透镜（5）通过光纤（6）连接光谱仪（7），光谱仪（7）与CCD相机（8）连接，CCD相机（8）与数据采集控制系统（9）连接，每个光学准直透镜（5）前设置有一个偏振片（4）。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于核工业西南物理研究院;，未经核工业西南物理研究院;许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310611508.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
