[发明专利]压力传感器敏感元件的制造工艺有效

专利信息
申请号: 201310613099.8 申请日: 2013-11-27
公开(公告)号: CN103606565A 公开(公告)日: 2014-02-26
发明(设计)人: 程新利;唐运海;沈娇艳;王冰;秦长发;潘涛;臧涛成;王文襄 申请(专利权)人: 苏州科技学院;昆山双桥传感器测控技术有限公司
主分类号: H01L29/84 分类号: H01L29/84;H01L49/00;G01L1/20
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 马明渡;王健
地址: 215009 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种压力传感器敏感元件的制造工艺,其第一、第二掺硼P型微晶硅条为由若干根沿径向排列的微晶硅电阻丝首尾连接组成;在杯形衬底附近通入高纯氧气与氩气的混合气体,混合气体氧气氩气体积比为1:13,总气压大小为Pa,在250℃温度下,用加速能量为2000eV的氩离子束轰击99.95%的二氧化硅靶材,沉积厚度1~5μm作为绝缘隔离层的二氧化硅隔离层;以电阻率为Ω﹒m掺硼硅为靶材,在高纯氩气的气氛中,用离子束溅射方法,生长温度为300℃,通过覆盖第一掩模板在二氧化硅隔离层上制备出厚度为1~5μm掺硼P型微晶硅条。本发明敏感层薄膜附着力强,既大大提升了量程,又提高了感应的精度和灵敏性,且提高了压力传感器的信号线性度。
搜索关键词: 压力传感器 敏感 元件 制造 工艺
【主权项】:
一种压力传感器敏感元件的制造工艺,其特征在于:所述压力传感器敏感元件包括由圆形基底层(1)和位于圆形基底层(1)周向的环形侧板(2)组成的杯形衬底(3)、位于圆形基底层(1)上表面的二氧化硅隔离层(4),此二氧化硅隔离层(4)与圆形基底层(1)相背的表面设有至少四条掺硼P型微晶硅条(5),一金属电极层(6)位于所述掺硼P型微晶硅条(5)与二氧化硅隔离层(4)相背的表面,此掺硼P型微晶硅条(5)之间填充有二氧化硅绝缘层(7);所述至少四条掺硼P型微晶硅条(5)包括至少2条位于圆形基底层(1)内圈处的第一掺硼P型微晶硅条(51)和至少2条位于圆形基底层(1)外圈处的第二掺硼P型微晶硅条(52);所述第一、第二掺硼P型微晶硅条(51、52)为由若干根沿径向排列的微晶硅电阻丝(8)首尾连接组成,所述金属电极层(6)包括输入电极区(61)、输出电极区(62)和中间电极区(63),所述输入电极区(61)一端连接到第一掺硼P型微晶硅条(51)一端,所述输出电极区(62)一端连接到第二掺硼P型微晶硅条(52)一端,中间电极区(63)两端分别连接到相邻所述第一、第二掺硼P型微晶硅条(51、52)各自的另一端;所述圆形基底层(1)和环形侧板(2)均为17‑4不锈钢; 包括以下步骤:步骤一、将高弹性17‑4不锈钢,用铣削工艺制成由圆形基底层(1)和位于圆形基底层(1)周向的环形侧板(2)组成的杯形衬底(3),在低气压为1~3Pa环境中退火,退火温度为350℃,退火时间为3小时;步骤二、将所述杯形衬底(3)放入离子束溅射真空腔内抽气至Pa,然后在高弹性杯形衬底(3)附近通入高纯氧气与氩气的混合气体,混合气体氧气氩气体积比为1:13,总气压大小为Pa,在250℃温度下,用加速能量为2000 eV的氩离子束轰击99.95%的二氧化硅靶材,沉积厚度1~5μm作为绝缘隔离层的二氧化硅隔离层(4);步骤三、以电阻率为Ω﹒m掺硼硅为靶材,在高纯氩气的气氛中,用离子束溅射方法,生长温度为300 ℃,通过覆盖第一掩模板在二氧化硅隔离层上制备出厚度为1~5μm掺硼P型微晶硅条(5);步骤四、用离子束溅射方法,通过覆盖第二掩模板在掺硼P型微晶硅条(5)上的引线位置制备出厚度为的金属电极层(6),以备在作为导电膜的金属电极层(6)上焊接金属内引线;步骤五、采用第三掩模板覆盖金属电极层(6),用离子束溅射沉积厚度约的作为绝缘保护的二氧化硅绝缘层(7);步骤六、在金属电极层(6)上通过金丝球焊技术制作若干根金丝引线。
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