[发明专利]一种非易失性存储器的修复方法在审
| 申请号： | 201310615834.9 | 申请日： | 2013-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN104681096A | 公开（公告）日： | 2015-06-03 |
| 发明（设计）人： | 胡洪;舒清明;苏如伟;马英 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种非易失性存储器的修复方法，包括：开启非易失性存储器的修复模块；修复模块判断是否执行对非易失性存储器的修复操作，如果不执行修复操作，则关闭修复模块，否则，修复模块对非易失性存储器的修复单元进行修复校验；判断是否通过修复校验，如果没有，则修复模块对修复单元进行修复操作；如果通过修复校验或在完成对修复单元的修复操作后，修复模块根据预设的控制位对修复单元对应的修复地址进行递增或递减并得到下一次的修复地址，同时将其保存在非易失性存储器的存储阵列中；关闭修复模块。本发明能够实现对整个非易失性存储器的修复，从而提高了非易失性存储器的数据保持力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 非易失性存储器 修复 方法 | ||
【主权项】：
一种非易失性存储器的修复方法，其特征在于，包括：开启所述非易失性存储器的修复模块；所述修复模块判断是否执行对所述非易失性存储器的修复操作，如果不执行所述修复操作，则关闭所述修复模块；如果执行所述修复操作，则所述修复模块对所述非易失性存储器的修复单元进行修复校验；所述修复模块判断所述修复单元是否通过修复校验，如果没有通过所述修复校验，则所述修复模块对所述修复单元进行修复操作；如果通过所述修复校验或在完成对所述修复单元的修复操作后，所述修复模块根据预设的控制位对所述修复单元对应的修复地址进行递增或递减并得到下一次的修复地址，同时将所述下一次的修复地址保存在所述非易失性存储器的存储阵列中；关闭所述修复模块。
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