[发明专利]相位测量轮廓术中相位误差过补偿与欠补偿的解决方法有效
申请号: | 201310618016.4 | 申请日: | 2013-11-27 |
公开(公告)号: | CN103615991A | 公开(公告)日: | 2014-03-05 |
发明(设计)人: | 周平;刘欣冉 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 江苏永衡昭辉律师事务所 32250 | 代理人: | 王斌 |
地址: | 215123 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种相位测量轮廓术中相位误差过补偿与欠补偿的解决方法,基于光学三维测量方法,通过投射光栅图像到物体表面,采集被物体表面轮廓调制过的光栅信息,还原出物体表面的高度,包括投影仪、CCD相机、待测物体和计算机,投影仪投射正弦光栅,相机采集到经物体表面高度调制后的变形正弦光栅,考虑测量过程中投影仪、相机的gamma非线性,以及测量环境光的影响,在对实际测量中对相位误差进行补偿时,投影仪向被测物体投射全黑、全白与四步相移图像,采用采集到的全黑、全白图像,计算得到环境光参数t,采用四步相移解相方法计算得到绝对相位φ,将这两个参数带入到相位误差补偿函数中,即可得到用于补偿的相位Δφ。 | ||
搜索关键词: | 相位 测量 轮廓 误差 补偿 解决方法 | ||
【主权项】:
1.一种相位测量轮廓术中相位误差过补偿与欠补偿的解决方法,相位测量轮廓术是采用基于光栅投影的物体表面轮廓测量系统,基于光学三维测量方法,通过投射光栅图像到物体表面,采集被物体表面轮廓调制过的光栅信息,还原出物体表面的高度,该轮廓测量系统包括投影仪、CCD相机、待测物体和计算机,其特征是:投影仪投射正弦光栅,相机采集到经物体表面高度调制后的变形正弦光栅,考虑测量过程中投影仪、相机的gamma非线性,以及测量环境光的影响,相机采集到的变形正弦光栅如式(1)所示,I n c ( x , y ) = [ M 1 ( x , y ) + M 2 ( x , y ) cos ( φ + δ n ) ] γ - - - ( 1 ) ]]> 其中,表示由相机采集到的变形正弦光栅的光强,(x,y)为图像像素坐标,M1(x,y)与M2(x,y)为光强表达式中的系数,φ为变形正弦光栅的相位,其中包含物体高度信息,δn为相移常量,γ为系统的gamma非线性参数。从式(1)中提取M1(x,y),将式(1)转化为式(2),为简化说明过程,省略了以下公式中的(x,y),I n c = M γ [ 1 + p cos ( φ + δ n ) ] γ - - - ( 2 ) ]]> 其中M=M1,p=M2/M1。在黑暗环境下,M1=M2,存在环境光时,二者不相等,因此p是一个与环境光相关的系统参数;利用广义二项式定理 展开式(2)得I n c = M γ Σ m = n ∞ [ γ m p m cos m ( φ + δ n ) ] - - - ( 3 ) ]]> 此处广义二项式中的x表示一般变量,与(x,y)中的x含义不同,利用余弦降幂公式得I n c = A + Σ k = 1 ∞ { B k cos [ k ( φ + δ n ) ] } - - - ( 4 ) ]]> 其中A=0.5B0 (5)B k = 2 M γ Σ m = n ∞ ( b k , m ) - - - ( 6 ) ]]>b k , m = ( 0.5 p ) 2 m + k γ 2 m + k 2 m + k m - - - ( 7 ) ]]> 依据式(7)得b k + 1 , m b k , m = p ( γ - k - 2 m ) 2 m + 2 k + 2 - - - ( 8 ) ]]> 2(m+1)bk,m+12pmbk+1,m=(γ-k-1)bk+1,m (9)展开式(8),并将式(8),(9)左右两边求和,得( γ + k + 1 ) B ^ k + 1 = p ( γ - k ) B ^ k + Σ m = n ∞ ( 1 p - p ) 2 mb k , m - - - ( 10 ) ]]> 其中,将上式两边同乘2Mγ,得递推公式(11)B k + 1 = p ( γ - k ) ( γ + k + 1 ) B k + H ( p , k ) - - - ( 11 ) ]]> 其中H ( p , k ) = 2 M γ · 2 ( 1 p - p ) ( r + k + 1 ) C k - - - ( 12 ) ]]>C k = Σ m = 0 ∞ m b k , m - - - ( 13 ) ]]> 考虑到高阶Bk的值远小于B1的值,忽略B4以上系数,则式(4)表示为I n c = A + Σ k = 1 4 { B k cos [ k ( φ + δ n ) ] } - - - ( 14 ) ]]> 当测量系统采用四步相移法时,理论上,相位误差可表示为Δφ = - arctan B 3 B 1 sin 4 φ 1 + B 3 B 1 cos 4 φ - - - ( 15 ) ]]> 可见相位误差是与gamma值、环境光以及绝对相位均有关系的变量;令q=B3/B1,忽略其中的高次分量,得到相位误差Δφ ≈ p 2 ( γ - 2 ) ( γ - 1 ) ( γ + 3 ) ( γ + 2 ) sin 4 φ - - - ( 16 ) ]]> 由于p值无法直接测量,根据式(2),当投影仪投射全白与全黑图像时,相机采集到的图像分别表示为和设一环境光参数t为t = I b c I w c = ( 1 - p 1 + p ) γ - - - ( 17 ) ]]> t是一个可以测量的量,从式(17)能够中求得p的表达式,并将其带入式(16)得Δφ = ( γ - 2 ) ( γ - 1 ) ( γ + 3 ) ( γ + 2 ) · ( 1 - t 1 / γ 1 + t 1 / γ ) 2 sin 4 φ - - - ( 18 ) ]]> 由于系统gamma值难于测量,因此简化式(18)为Δφ = [ A · ( 1 - t B 1 + t B ) 2 + c ] sin 4 φ - - - ( 19 ) ]]> 式(19)即为相位误差补偿函数的一般形式,分析式(19),相位误差分为两部分,一是记为相位误差系数,二是sin4φ,记为归一化相位误差,在求解了式(19)后,采用式(19)实现对相位误差的精确补偿,相位误差补偿预处理的过程就是求解公式(19)中未知变量的过程;对于相位误差系数,其中(A,B,C)是表达式中未知的变量,t通过向标定平面投射全黑与全白图像获得,相位误差系数表达式的结果能够通过向标定平面投射4步相移图像以及16步相移图像,通过计算相位误差最大值获得,当在至少3种不同环境光下进行上述步骤时,就能够求解出未知变量(A,B,C)的值,对于归一化相位误差,依据理论,能够直接采用sin4φ的形式,若进一步考虑测量中的随机误差,也能够通过向标定平面投射4步相移图像以及16步相移图像,对求得的相位误差进行归一化操作后,采用LUT,曲线拟合方法获得;采用求解得到的式(19)的表达式,能够对任意环境光状态下的物体轮廓测量进行相位补偿,由于在相位误差补偿预处理过程中考虑了环境光对相位误差的影响,因此可以解决其中的相位过补偿与欠补偿问题。
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