[发明专利]支持高频率敏感度自准直现象的光子晶体及设计方法和应用有效
| 申请号： | 201310625054.2 | 申请日： | 2013-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN104678491B | 公开（公告）日： | 2018-11-09 |
| 发明（设计）人： | 蒋寻涯;林旭林;张小刚;李伟;陈亮 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所;复旦大学 |
| 主分类号： | G02B6/122 | 分类号： | G02B6/122;G02B27/00;G02F1/35;G01N21/41 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 李仪萍 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种支持高频率敏感度自准直现象的光子晶体及设计方法和应用。其中，所述支持高频率敏感度自准直现象的光子晶体具有由至少两种材料形成的周期性折射率分布；且光子晶体色散空间内的某个能带内存在平直的等频线或平坦等频面、且在平直等频线或平坦等频面所在频率附近等频线或等频面曲率随频率的变化率至少比真空中提高50倍。由于本发明的光子晶体在自准直点附近等频线或等频面曲率随频率剧烈变化，使得光束衍射强度很容易受到频率改变和材料折射率变化的影响，可以用于调控光束衍射强度、探测折射率等。 | ||
| 搜索关键词： | 光子晶体 自准直 频面 高频率 敏感度 曲率 光束衍射 平直 平坦 周期性折射率 材料折射率 材料形成 剧烈变化 变化率 折射率 色散 应用 探测 调控 | ||
【主权项】：
1.一种支持高频率敏感度自准直现象的光子晶体，其特征在于：具有由至少两种材料形成的二维周期性折射率分布；且光子晶体色散空间内的某个能带内存在平直的等频线、且在平直等频线所在频率附近等频线曲率随频率的变化率比真空中的变化率高至少50倍；其中，所述平直等频线贯穿布里渊区，不是布里渊区内某一封闭等频线的一部分。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海微系统与信息技术研究所;复旦大学，未经中国科学院上海微系统与信息技术研究所;复旦大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310625054.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
