[发明专利]一种探测器及漫透射比测量系统无效
申请号: | 201310629713.X | 申请日: | 2013-11-29 |
公开(公告)号: | CN103604749A | 公开(公告)日: | 2014-02-26 |
发明(设计)人: | 冯国进 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/17 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 李相雨 |
地址: | 100013*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种探测器及漫透射比测量系统,该探测器应用于漫透射比测量系统中,所述漫透射比测量系统包括所述探测器、光源系统、分光系统和电控装置,所述电控系统与所述探测器、光源系统、分光系统相连并提供电源,所述探测器为圆形,且所述探测器的内表面被光电探测器完全覆盖。使用本发明提供的探测器,测量得到的准确度可以独立与材料自身特性,且能够极大提高测量的精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 探测器 透射 测量 系统 | ||
【主权项】:
一种探测器,其特征在于,应用于漫透射比测量系统中,所述系统包括所述探测器、光源系统、分光系统和电控装置,所述电控系统与所述探测器、光源系统、分光系统相连并提供电源,所述探测器为圆形,且所述探测器的内表面被光电探测器完全覆盖。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310629713.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。