[发明专利]中心波长2700nm的航空尾气气体检测滤光片有效

专利信息
申请号: 201310631477.5 申请日: 2013-11-29
公开(公告)号: CN103713346A 公开(公告)日: 2014-04-09
发明(设计)人: 王继平;吕晶;胡伟琴 申请(专利权)人: 杭州麦乐克电子科技有限公司
主分类号: G02B5/20 分类号: G02B5/20
代理公司: 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 代理人: 周豪靖
地址: 311188 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明所设计的一种测试精度高、能极大提高信噪比的中心波长2700nm的航空尾气气体检测滤光片,包括以Ge为原材料的基板,以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,该中心波长2700nm的航空尾气气体检测滤光片,其中心波长2700±5nm,其在航空尾气气体检测过程中,可大大的提高信噪比,提高测试精准度。该滤光片的峰值透过率Tp≥80%、带宽=200±20nm,1000~3500nm(除通带外),Tavg<0.5%。
搜索关键词: 中心 波长 2700 nm 航空 尾气 气体 检测 滤光
【主权项】:
一种中心波长2700nm的航空尾气气体检测滤光片,包括以Ge为原材料的基板,以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,其特征是:所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有:96nm厚度的Ge层、304nm厚度的SiO层、132nm厚度的Ge层、159nm厚度的SiO层、82nm厚度的Ge层、338nm厚度的SiO层、140nm厚度的Ge层、339nm厚度的SiO层、137nm厚度的Ge层、349nm厚度的SiO层、70nm厚度的Ge层、169nm厚度的SiO层、136nm厚度的Ge层、343nm厚度的SiO层、149nm厚度的Ge层、473nm厚度的SiO层、232nm厚度的Ge层、668nm厚度的SiO层、103nm厚度的Ge层和226nm厚度的SiO层;所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有:178nm厚度的Ge层、166nm厚度的SiO层、92nm厚度的Ge层、222nm厚度的SiO层、102nm厚度的Ge层、277nm厚度的SiO层、135nm厚度的Ge层、150nm厚度的SiO层、55nm厚度的Ge层和150nm厚度的SiO层。
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