[发明专利]一种RFID芯片性能测试的装置有效

专利信息
申请号: 201310632527.1 申请日: 2013-11-29
公开(公告)号: CN103630819A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 宁勤方;马贤祥;王德健 申请(专利权)人: 浙江德马科技有限公司;湖州德马铃木工业设备有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 代理人: 周云
地址: 313023 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 种RFID芯片性能测试的装置,其特征在于:它包括空气炮(1),空气炮(1)口连接有炮管(2),空气炮(1)和炮管(2)安装在支架(3)上,炮管(2)两侧设有速度感应器(4),能够感应到炮管(2)内RFID芯片运动速度,炮管(2)内RFID芯片高速运动下的读写性能能够被读写装置(5)捕获;本发明使用的空气炮发射炮弹时速度很快,可以达到180km/h或者更高的速度,因此,可以很好的模拟高速公路行驶的汽车等高速运动的物体;同时空气炮使用安全,无火药,无污染,纯粹使用压缩空气。使用过程中没有耗材,日常使用成本低。整个测试过程可以有效的解决场地问题,减低测试成本。
搜索关键词: 一种 rfid 芯片 性能 测试 装置
【主权项】:
一种RFID芯片性能测试的装置,其特征在于:它包括空气炮(1),空气炮(1)口连接有炮管(2),空气炮(1)和炮管(2)安装在支架(3)上,炮管(2)两侧设有速度感应器(4),能够感应到炮管(2)内RFID芯片运动速度,炮管(2)内RFID芯片高速运动下的读写性能能够被读写装置(5)捕获;所述空气炮(1)受控制装置(6)控制。
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