[发明专利]利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法无效

专利信息
申请号: 201310633293.2 申请日: 2013-12-02
公开(公告)号: CN103735271A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: 樊春海;李迪;李昆 申请(专利权)人: 中国科学院上海应用物理研究所
主分类号: A61B5/117 分类号: A61B5/117;G01N33/543
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 邓琪;宋丽荣
地址: 201800 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法,包括如下步骤:利用纳米等离子体激元材料和核酸适体制备纳米等离子体激元探针;处理基底并利用该基底获取潜指纹;将所述纳米等离子体激元探针滴加于已获取潜指纹的基底上,使得所述潜指纹与所述纳米等离子体激元探针结合;利用暗场显微镜进行检测。本发明提供的指纹分析方法不仅能够对潜指纹进行成像,而且能够同时检测指纹中所携带的化学分析物。结果表明,本发明提供的是一种简单快速的方法,可以对指纹样品进行直接的无损分析。
搜索关键词: 利用 暗场 显微镜 同时 进行 指纹识别 分析 检测 方法
【主权项】:
利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:S1,利用纳米等离子体激元材料和核酸适体制备纳米等离子体激元探针;S2,处理基底并利用该基底获取潜指纹;S3,将所述纳米等离子体激元探针滴加于已获取潜指纹的基底上,使得所述潜指纹与所述纳米等离子体激元探针结合;S4,利用暗场显微镜进行检测。
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