[发明专利]电子设备检测方法及装置有效
| 申请号： | 201310634689.9 | 申请日： | 2013-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN103617106A | 公开（公告）日： | 2014-03-05 |
| 发明（设计）人： | 鄢运华 | 申请（专利权）人： | 广州金山网络科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 马敬;项京 |
| 地址： | 510623 广东省广州市天河区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例公开了一种电子设备检测方法及装置。该电子设备检测方法包括：接收开始检测指令；响应开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测；根据待检测项目的检测结果，获得每一待检测项目的单一性能状态；依据每一待检测项目的单一性能状态以及每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定电子设备的综合性能的参考阈值区间；每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对电子设备的综合性能的影响程度确定；依据每一待检测项目的单一性能状态和电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定电子设备的当前综合性能，获得电子设备的检测结果。可见，通过利用本方案，实现了对电子设备的当前综合性能的确定，最终提高了用户的使用体验。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种电子设备检测方法，其特征在于，包括：接收开始检测指令；响应所述开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测；根据所述待检测项目的检测结果，获得所述每一待检测项目的单一性能状态；依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间；其中，所述每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对所述电子设备的综合性能的影响程度确定；依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能，获得所述电子设备的检测结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州金山网络科技有限公司，未经广州金山网络科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310634689.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
