[发明专利]一种高安全芯片有源屏蔽物理保护结构的设计方法有效

专利信息
申请号: 201310636905.3 申请日: 2013-12-03
公开(公告)号: CN103646137A 公开(公告)日: 2014-03-19
发明(设计)人: 张颖;潘亮;陈波涛 申请(专利权)人: 北京中电华大电子设计有限责任公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100102 北京市朝阳*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提出了一种高安全芯片有源屏蔽物理保护结构的设计方法。芯片有源屏蔽物理保护结构具有防止高安全芯片受到侵入式攻击(如被物理篡改或探测)的作用。有源屏蔽线采用单层金属走线,布满芯片表面。为了保证下层物理图形不被攻击,通常金属走线采用最小的设计规则。如果全芯片布满按最小规则设计的图形,将会增加由于颗粒沾污导致的芯片电路功能性能失效的可能性。为了减少量产芯片电路失效,通常会放宽有源屏蔽线的宽度(width)或\和间距(spacing)。而放宽有源屏蔽线尺寸又会降低芯片的安全性。为了解决芯片安全性和量产产品的成品率(yield)之间的矛盾,本文提出了变截距(pitch)的有源屏蔽物理保护结构,实现芯片产品的安全性和成品率的双提升。
搜索关键词: 一种 安全 芯片 有源 屏蔽 物理 保护 结构 设计 方法
【主权项】:
一种高安全芯片有源屏蔽物理保护结构的设计方法,其特征在于对芯片划分不同的安全等级区域,根据有源屏蔽线需要保护模块或区域,在不同的安全区域内使用不同的有源屏蔽物理保护结构,芯片高安全等级区域有源屏蔽层走线采用较小截距,芯片较低安全等级区域采用较大的截距。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京中电华大电子设计有限责任公司,未经北京中电华大电子设计有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310636905.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top