[发明专利]一种光纤环及其骨架材料膨胀系数简易测量方法

摘要

本发明提供一种光纤环及其骨架材料膨胀系数简易测量方法，测量装置的底座为人造大理石台板，上面安装适当的支架固定位移数显表，用以测量光纤环及其骨架材料随温度变化的位移量。支架相对于底座的安装，要求保证相应的垂直度、平行度等位置度要求，并与底座的连接牢固可靠。采用上述方案测量材料的线膨胀系数，虽然测量精度不是很高，但对被测量材料的外形没有特别要求，可以实现光纤环及其骨架材料线膨胀系数的简单快速测量。

主权项

一种光纤环及其骨架材料膨胀系数简易测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：将被测光纤环置于高低温交变试验箱中，升温至60℃并保温0.5小时后，迅速通过两个固定块垂直置于测量装置底座上，使测针压在被测光纤环径向最高点，位移数显表读数置零，保持装置不动，待被测光纤环冷却到室温后，位移数显表读数即为径向变化量ΔL，同时在室温下测出被测光纤环的基本尺寸L，采用预定公式计算得到径向线膨胀系数；所述迅速通过两个固定块垂直置于测量装置底座上的具体步骤为：将被测光纤环垂直设置于测量装置底座上，同时采用两个固定块夹持，采用测针与被测光纤环连接，并在测针上设置有位移数显表，所述测针、所述位移数显表及被测光纤环均在同一垂直线上垂直于测量装置底座；步骤2：将被测光纤环置于高低温交变试验箱中，升温至60℃并保温0.5小时后，迅速通过1个固定块水平设置于测量装置底座上，使测针垂直被测光纤环轴向一侧，位移数显表读数置零，保持装置不动，待被测光纤环冷却到室温后，位移数显表读数即为轴向变化量ΔL，同时在室温下测出被测光纤环的基本尺寸L，采用预定公式计算得到轴向线膨胀系数；所述通过1个固定块水平设置于测量装置底座上的具体步骤为：将被测光纤环水平设置于测量装置底座上，采用测针垂直与被测光纤环一侧连接，并在测针上设置有位移数显表，所述测针、所述位移数显表垂直于所述被测光纤环及所述测量装置底座。