[发明专利]光栅编码器校验系统及方法在审
| 申请号： | 201310643095.4 | 申请日： | 2013-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN104697563A | 公开（公告）日： | 2015-06-10 |
| 发明（设计）人： | 殷天明;王艳;程鹏飞 | 申请（专利权）人： | 北京通大华泉科技有限公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 无 | 代理人： | 无 |
| 地址： | 100085 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光栅编码器校验系统及方法，所述系统包括光栅编码器，用于根据输出3路三相位置信号的高低电平及1路速度信号；微控制器，用于计光栅编码器旋转一圈输出的速度脉冲数，以及所述三相位置信号的高低电平所包含的速度脉冲数，并将上述数据发送给上位机；上位机，用于接收所述数据，并根据所述数据判断所述光栅编码器是否正常。 | ||
| 搜索关键词： | 光栅 编码器 校验 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种光栅编码器校验系统，包括： 光栅编码器，用于根据输出3路三相位置信号的高低电平及1路速度信号； 微控制器，用于计光栅编码器旋转一圈输出的速度脉冲数，以及所述三相位置信号所包含的速度脉冲数，并将上述数据发送给上位机； 上位机，用于接收所述数据，并根据所述数据判断所述光栅编码器是否正常。
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