[发明专利]光电式绝对位置检测器及其安装方法有效
| 申请号： | 201310645853.6 | 申请日： | 2013-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN103852091B | 公开（公告）日： | 2018-01-23 |
| 发明（设计）人： | 川床修;小林博和 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01D5/34 | 分类号： | G01D5/34 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 张劲松 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种光电式绝对位置检测器，具备带有节距不同的模式的多个轨道（11～13）的刻度尺（10）、具有光源（8）及包括与所述多个轨道（11～13）对应的多个受光元件阵列（21～23）的受光元件的检测器（20），其中，在所述检测器（20）的、与所述刻度尺（10）相邻的粗节距和细节距的模式的轨道（11、12）的边界对应的位置，追加配置受光元件阵列（22’），以根据该追加的受光元件阵列（22’）的信号振幅（Iamp），检测所述检测器（20）相对于刻度尺（10）的横向方向的变位的方式进行操作，可检测检测器（20）相对于刻度尺（10）的横向方向的变位。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 绝对 位置 检测器 及其 安装 方法 | ||
【主权项】：
一种光电式绝对位置检测器，具备：带有节距不同的模式的多个轨道的刻度尺、具有光源及包括与所述多个轨道对应的多个受光元件阵列的受光元件的检测器，其特征在于，在所述检测器的、与所述刻度尺相邻的粗节距和细节距的模式的轨道的边界对应的位置，追加配置受光元件阵列，根据该追加的受光元件阵列的信号振幅，检测所述检测器相对于刻度尺的横向方向的变位。
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