[发明专利]真空紫外辐照强度控制装置及控制方法有效

专利信息
申请号: 201310647605.5 申请日: 2013-12-03
公开(公告)号: CN103676971A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 傅立;刘刚;杨碧琦;刘继超;万峰;王惠芬;张丽新 申请(专利权)人: 上海卫星装备研究所
主分类号: G05D3/12 分类号: G05D3/12;G01J1/00
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种真空紫外辐照试验辐照强度控制装置,包括:真空设备、真空紫外强度探测器、探测器电源、探测器移动机构、探测器伺服电机、探测器伺服电机电源、电荷放大器、数据采集卡、紫外辐照试样板、试样板移动机构、试样板移动导轨、试样板伺服电机、试样板伺服电机电源、控制器和计算机。本发明还提供了一种用于真空紫外辐照试验的辐照强度控制方法,利用真空紫外强度探测器得到光源的总辐射量,采用闭环控制原理,通过伺服电机调节真空紫外光源与辐照样品之间的距离,保证试样受到的真空紫外辐照强度恒定。本发明具有结构简单、通用性高、应用方便、精度高、响应快的优点,可以有效地降低航天器产品真空紫外辐照试验成本,提高试验精度。
搜索关键词: 真空 紫外 辐照 强度 控制 装置 方法
【主权项】:
一种真空紫外辐照试验辐照强度控制装置,其特征在于,包括:真空设备、真空紫外强度探测器、探测器电源、探测器移动机构、探测器伺服电机、探测器电源、电荷放大器、数据采集卡、紫外辐照试样板、试样板移动机构、试样板移动导轨、试样板伺服电机、试样板伺服电机电源、控制器和计算机,所述真空紫外强度探测器、探测器移动机构、紫外辐照试样板、试样板移动机构和试样板移动导轨设置在所述真空设备内部,其它部件设置在所述真空设备外部,所述试样板移动导轨两端与所述真空设备固接连接,所述试样板移动机构与所述试样板移动导轨连接,所述紫外辐照试样板与所述试样板移动机构连接,所述试样板伺服电机一端与所述试样板移动机构连接,另一端通过所述试样板伺服电机电源连接至所述控制器;所述探测器移动机构设置在紫外光源与所述紫外辐照试样板之间,所述真空紫外强度探测器与所述探测器移动机构连接,所述探测器伺服电机一端与所述真空紫外强度探测器连接,另一端通过所述探测器伺服电机电源连接至控制器;所述电荷放大器与所述真空紫外强度探测器连接,所述数据采集卡一端与所述电荷放大器连接,另一端连接至所述控制器,所述计算机与所述控制器连接,所述探测器电源与所述真空紫外强度探测器连接。
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