[发明专利]一种提高数控机床光栅测量系统测量精度的方法有效

专利信息
申请号: 201310648348.7 申请日: 2013-12-04
公开(公告)号: CN103737435A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: 杨洪涛;喻曹丰;吴天凤;费业泰;夏秋;耿金华 申请(专利权)人: 安徽理工大学
主分类号: B23Q17/24 分类号: B23Q17/24;G06F17/50
代理公司: 合肥顺超知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34120 代理人: 周发军
地址: 232001 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种提高数控机床光栅测量系统测量精度的方法,光栅测量系统通过单个螺钉固定在数控机床各向溜板与其光栅测量系统安装位置处于同一直线上的热变形临界点的位置上,其两端采用限制上下摆动的浮动支撑结构,能够减小甚至消除数控机床溜板的热变形对光栅测量系统热变形误差产生的附加影响,并通过测量光栅测量系统的热变形误差,建立精确的光栅测量系统热误差预测模型,可以代入利用现有数控机床误差补偿技术建立的误差补偿模型中,实现对光栅测量系统热变形引起的零位漂移误差和示值误差进行精确补偿。
搜索关键词: 一种 提高 数控机床 光栅 测量 系统 精度 方法
【主权项】:
一种提高数控机床光栅测量系统测量精度的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、通过仿真分析和实验验证的方法,找出数控机床各方向溜板与光栅测量系统安装位置处于同一直线上的热变形临界点的位置;步骤二、各光栅测量系统通过单个螺钉固定在数控机床各溜板的热变形临界点的位置上,各光栅测量系统两端采用限制上下摆动的浮动支撑结构,以减小或消除机床溜板热变形对光栅测量系统热变形误差的附加影响。
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