[发明专利]一种检测密封圈缺陷的方法有效

专利信息
申请号: 201310651249.4 申请日: 2013-12-04
公开(公告)号: CN103604806A 公开(公告)日: 2014-02-26
发明(设计)人: 李华伟;李凤婷;关帅;余天洪;谌孙焕;卜学哲 申请(专利权)人: 天津普达软件技术有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 程毓英
地址: 300457 天津市塘沽区*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明属于数字图像处理,涉及一种检测密封圈缺陷的方法,包括下列步骤:开发一个圆环定位工具;在进行自动检测之前,先采集一幅包含密封圈的图像,并在屏幕上显示该图像;利用鼠标拖动圆环定位工具,对密封圈图像定位;进行自动检测的时候,在相同的拍摄条件和位置下采集包含待检测的密封圈的图像;对于待检测的密封圈的图像,提取密封圈的灰度信息;判断待检测的密封圈是否存在缺陷。本发明利用一个屏幕工具,快速准确地检测出密封圈的变形、多料和少料等缺陷,检测时间不超过0.4ms。
搜索关键词: 一种 检测 密封圈 缺陷 方法
【主权项】:
一种检测密封圈缺陷的方法,包括下列步骤:(1)开发一个圆环定位工具:该工具是一个屏幕显示工具,包括由两个同心圆构成的圆环,圆环被若干直线等分成若干个小扇形区域,这些直线的延长线过圆心,该工具的圆环的位置能够在鼠标的拖动下改变,在大圆圆周及小圆圆周上或附近各设置有一个用于在鼠标的拖动下能够改变相应圆的大小的图标;小扇形区域的个数可以改变,划分的越多,检测精度越高;(2)在进行自动检测之前,先采集一幅包含密封圈的图像,并在屏幕上显示该图像;(3)利用鼠标拖动圆环定位工具,使其移动到图像中的密封圈的位置,改变圆环的大圆和小圆的大小到刚好覆盖密封圈的位置。根据所确定的圆环定位工具的位置和大小,计算每个小扇形区域内的所有像素点坐标,并保存在相应的数组中;(4)进行自动检测的时候,在相同的拍摄条件和位置下采集包含待检测的密封圈的图像;(5)对于待检测的密封圈的图像,取出步骤(3)数组中保存的像素点坐标,计算每个小扇形区域内的所有像素点的灰度平均值,即各个小扇形区域内图像的灰度平均值。(6)求取相邻小扇形区域内图像的灰度差值,若某个小扇形区域内图像的灰度平均值与和其相邻的两个小扇形区域的灰度平均值的差值均小于某个固定阈值,则判断待检测的密封圈在该小扇形区域内不存在缺陷,否则,判断待检测的密封圈在该小扇形区域内存在缺陷。
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