[发明专利]光纤光学相干测距装置和光纤光学测距方法在审
| 申请号： | 201310654868.9 | 申请日： | 2013-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN104698468A | 公开（公告）日： | 2015-06-10 |
| 发明（设计）人： | 袁海骏;杨德志;周伟;凌清;任伟;王克银 | 申请（专利权）人： | 上海舜宇海逸光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/32 | 分类号： | G01S17/32 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 吴贵明;张永明 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光纤光学相干测距装置和光纤光学相干测距方法，该测距装置包括：带波长扫描的解调单元、光学头、以及用于将解调单元发出的激光传导至光学头上的单模光纤传导单元，其中，光学头包括准直透镜系统和参考面，其中准直透镜系统用于将单模光纤传导单元的光纤端面输出的激光准直；参考面用于将经过准直的激光的一部分反射回光纤端面并耦合进入单模光纤；以及解调单元用于检测单模光纤内的相干光并且用于根据相干光计算参考面与被测表面之间的距离，其中，相干光由从被测表面反射或者散射的光和从参考面反射的光耦合进入同一单模光纤中进行相干形成。本发明可对非光学反射表面如非抛光的金属、塑料等表面进行测距。 | ||
| 搜索关键词： | 光纤 光学 相干 测距 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种光纤光学相干测距装置，其特征在于，包括：带波长扫描的解调单元、光学头、以及用于将所述解调单元发出的激光传导至所述光学头上的单模光纤传导单元，其中所述光学头包括准直透镜系统和参考面，其中所述准直透镜系统用于将所述单模光纤传导单元的光纤端面输出的激光准直；所述参考面用于将经过准直的激光的一部分反射回所述光纤端面并耦合进入单模光纤；以及所述解调单元用于检测所述单模光纤内的相干光并且用于根据所述相干光计算所述参考面与被测表面的距离，其中，所述相干光由从所述被测表面反射或者散射的光和从所述参考面反射的光耦合进入同一单模光纤中进行相干形成。
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