[发明专利]一种沟槽型肖特基二极管的制备工艺方法在审

专利信息
申请号: 201310655056.6 申请日: 2013-12-06
公开(公告)号: CN104701161A 公开(公告)日: 2015-06-10
发明(设计)人: 李昊;刘远良 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L21/329 分类号: H01L21/329;H01L29/06;H01L29/872
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 王函
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种沟槽型肖特基二极管的制备工艺方法,具体是利用两步干法刻蚀接触孔,将接触孔先刻蚀至硅表面,然后将硅和沟槽内的氧化硅一同刻蚀,其中最后一步接触孔刻蚀菜单对硅和氧化硅的选择比为1:1,并且刻蚀硅表面约1000埃以上,同时使沟槽侧壁内的氧化硅突出硅表面,最后利用金属形成肖特基接触。本发明旨在解决沟槽肖特基二极管产品漏电大的问题,且能提高产品面内均匀性,降低生产成本,提高产品良率,使其适合规模化量产。
搜索关键词: 一种 沟槽 型肖特基 二极管 制备 工艺 方法
【主权项】:
一种沟槽型肖特基二极管的制备工艺方法,其特征在于,主要包括如下步骤:步骤1:参照标准沟槽型肖特基二极管制备工艺,在硅片上形成沟槽并用多晶硅进行填充,然后利用干法刻蚀将沟槽外的多晶硅进行回刻;步骤2:沉积一层层间介质膜,开始形成接触孔;步骤3:利用干法刻蚀工艺,将接触孔先刻蚀至硅表面,然后将硅和沟槽内的氧化硅一同刻蚀;步骤4:刻蚀硅使沟槽内的氧化硅突出硅平面;步骤5:然后沉积一层金属,从而形成肖特基接触;步骤6:最后沉积金属铝并通过光刻,刻蚀工艺形成金属连接。
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