[发明专利]一种沟槽型肖特基二极管的制备工艺方法在审
申请号: | 201310655056.6 | 申请日: | 2013-12-06 |
公开(公告)号: | CN104701161A | 公开(公告)日: | 2015-06-10 |
发明(设计)人: | 李昊;刘远良 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L29/06;H01L29/872 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 王函 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种沟槽型肖特基二极管的制备工艺方法,具体是利用两步干法刻蚀接触孔,将接触孔先刻蚀至硅表面,然后将硅和沟槽内的氧化硅一同刻蚀,其中最后一步接触孔刻蚀菜单对硅和氧化硅的选择比为1:1,并且刻蚀硅表面约1000埃以上,同时使沟槽侧壁内的氧化硅突出硅表面,最后利用金属形成肖特基接触。本发明旨在解决沟槽肖特基二极管产品漏电大的问题,且能提高产品面内均匀性,降低生产成本,提高产品良率,使其适合规模化量产。 | ||
搜索关键词: | 一种 沟槽 型肖特基 二极管 制备 工艺 方法 | ||
【主权项】:
一种沟槽型肖特基二极管的制备工艺方法,其特征在于,主要包括如下步骤:步骤1:参照标准沟槽型肖特基二极管制备工艺,在硅片上形成沟槽并用多晶硅进行填充,然后利用干法刻蚀将沟槽外的多晶硅进行回刻;步骤2:沉积一层层间介质膜,开始形成接触孔;步骤3:利用干法刻蚀工艺,将接触孔先刻蚀至硅表面,然后将硅和沟槽内的氧化硅一同刻蚀;步骤4:刻蚀硅使沟槽内的氧化硅突出硅平面;步骤5:然后沉积一层金属,从而形成肖特基接触;步骤6:最后沉积金属铝并通过光刻,刻蚀工艺形成金属连接。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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