[发明专利]使用布拉格光栅阵列测量温度的方法有效

专利信息
申请号: 201310656199.9 申请日: 2013-12-06
公开(公告)号: CN103604527A 公开(公告)日: 2014-02-26
发明(设计)人: 金贤敏;林晓锋;高俊 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01K11/30 分类号: G01K11/30;G01K13/00
代理公司: 上海交达专利事务所 31201 代理人: 王毓理;王锡麟
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种温度测量技术领域的使用布拉格光栅阵列测量温度的方法,根据待测温对象的几何结构以及测温点确定测温芯片的结构,测温装置上均匀布置若干布拉格光栅,测温装置贴合测温点,向各个布拉格光栅引入一束宽带输入光;温度变化前,宽带输入光入射至各个布拉格光栅,经过各个布拉格光栅后,与每个布拉格光栅对应的反射波长的光被反射回去,被反射的光形成基准输出光谱;温度变化后,宽带输入光入射至各个布拉格光栅,经过各个布拉格光栅反射后,被反射的光形成变化后的输出光谱。将变化后的输出光谱与基准输出光谱相比较,得到与各个布拉格光栅一一对应的波长改变量;依据波长改变量得到对应的各个布拉格光栅的温度改变量,从而得到测温装置的温度分布。本发明能够简便、实用、高效地进行测温。
搜索关键词: 使用 布拉格 光栅 阵列 测量 温度 方法
【主权项】:
一种使用布拉格光栅阵列测量温度的方法,其特征在于,包括:包括以下步骤:步骤一、根据待测温对象的几何结构以及测温点确定测温芯片的结构,测温装置中均匀布置若干布拉格光栅,测温装置贴合测温点,向各个布拉格光栅引入一束宽带输入光;步骤二、温度变化前,宽带输入光入射至各个布拉格光栅,经过各个布拉格光栅后,与每个布拉格光栅对应的反射波长的光被反射回去,被反射的光形成基准输出光谱;温度变化后,宽带输入光入射至各个布拉格光栅,经过各个布拉格光栅反射后,被反射的光形成变化后的输出光谱;步骤三、将步骤二中变化后输出光谱与基准输出光谱相比较,得到与各个布拉格光栅一一对应的波长改变量;步骤四、依据步骤三中的波长改变量得到对应的各个布拉格光栅的温度改变量,从而得到测温装置的温度分布。
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