[发明专利]一种电容检验方法在审
| 申请号： | 201310657220.7 | 申请日： | 2013-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN104698305A | 公开（公告）日： | 2015-06-10 |
| 发明（设计）人： | 王榕英 | 申请（专利权）人： | 大连东浦机电有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R27/26 |
| 代理公司： | 无 | 代理人： | 无 |
| 地址： | 116000 辽宁省大连*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电容检验方法，包括如下步骤：在待测电容与已知阻值的电阻R相互串联构成的回路两端施加频率为50Hz、电压有效值为U的正弦交流电；检测电阻R两端的电压UR；计算待测电容两端的电压UC=U-UR；计算待测电容与电阻R构成的串联回路电流I=UR/R；根据计算出的待测电容两端电压UC和回路电流I利用公式C=I/（UC×2 π f）得出待测电容的电容值C；根据基准电容在频率为50Hz的正弦交流电条件下的电容值对待测电容的容值C进行校验差值；本发明能够有效降低校验误差，准确实用，便于满足实际应用的需求，可以利用该电容检验方法对电容器件进行筛选，进而利于保证待测电容的应用效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电容 检验 方法 | ||
【主权项】：
一种电容检验方法，其特征在于包括如下步骤：①在待测电容与已知阻值的电阻R相互串联构成的回路两端施加频率为50Hz、电压有效值为U的正弦交流电；②检测电阻R两端的电压UR；③计算待测电容两端的电压UC=U‑UR；④计算待测电容与电阻R构成的串联回路电流I=UR/R；⑤根据计算出的待测电容两端电压UC和回路电流I利用公式C=I/（UC×2 π f）得出待测电容的电容值C；⑥根据基准电容在频率为50Hz的正弦交流电条件下的电容值对待测电容的容值C进行校验差值；⑦根据步骤⑥所述的校验差值显示校验结果。
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