[发明专利]检测电磁辐射的图像像素设备和传感器阵列以及检测电磁辐射的方法有效
| 申请号： | 201310664736.4 | 申请日： | 2013-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN103808415B | 公开（公告）日： | 2018-10-19 |
| 发明（设计）人： | I·赫尔曼;C·舍林 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/10 | 分类号： | G01J5/10;G01J5/20;H01L27/146 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 杜荔南;胡莉莉 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 检测电磁辐射的图像像素设备和传感器阵列以及检测电磁辐射的方法。本发明涉及用于检测电磁辐射(1)的图像像素设备(100)，具有：吸收结构装置(110)，其被设计用于吸收电磁辐射(1)和将所述电磁辐射作为热量接收，并且所述吸收结构装置具有至少一个等离子体共振结构装置，所述等离子体共振结构装置设计用于向吸收结构装置(110)传送电磁辐射(1)；和具有至少一个探测元件(125)的探测装置(120)，所述探测元件被设计用于借助通过所接收的热量引起的至少一个探测元件(125)的电气特性的变化来检测电磁辐射(1)。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 电磁辐射 图像 像素 设备 传感器 阵列 以及 方法 | ||
【主权项】：
1.用于检测电磁辐射(1)的图像像素设备(100)，具有：‑吸收结构装置(110)，其被设计用于吸收电磁辐射(1)和将所述电磁辐射作为热量接收，并且设置在至少一个等离子体共振结构装置(115)处，所述等离子体共振结构装置被设计用于向吸收结构装置(110)传送电磁辐射(1)；和‑具有至少一个探测元件(125)的探测装置(120)，所述探测装置与吸收结构装置通过至少一个热桥耦合，并且所述探测元件被设计用于，检测通过由吸收结构装置(110)所接收的热量引起的至少一个探测元件(125)的电气特性的变化并且由此检测电磁辐射(1)。
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