[发明专利]用于织物弯曲与摩擦及遮光与厚度的组合测量装置与方法有效

专利信息
申请号: 201310666302.8 申请日: 2013-12-10
公开(公告)号: CN103616350A 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 杜赵群;孙丰鑫;孙草 申请(专利权)人: 东华大学
主分类号: G01N21/59 分类号: G01N21/59;G01B7/06;G01N3/20;G01N19/02
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 翁若莹
地址: 201620 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及织物弯曲与摩擦及遮光与厚度的组合测量装置与方法,该装置包括透光测量机构、厚度测量机构、力测量机构、牵引卷绕机构、输送机构。实现该装置的方法是通过输送机构输送、牵引卷绕机构牵引织物,使用透光测量机构的光敏元件感应透过织物的光量,获取织物的透光率;通过厚度测量机构的电容极板感应不同厚度织物的电容,获得织物的厚度不匀;通过力测量机构的压针和双托辊组成的弯曲机构弯曲织物,获得织物的抗弯力;通过力测量机构的压辊和摩擦辊构成摩擦辊与织物的摩擦,由与前托针的力传感器和后托针相连的力传感器分别感应输入摩擦辊前的织物张力和输出摩擦辊后的织物张力,获得织物的摩擦性能。本发明机构精巧、测量简便、快速。
搜索关键词: 用于 织物 弯曲 摩擦 遮光 厚度 组合 测量 装置 方法
【主权项】:
一种用于织物弯曲与摩擦及遮光与厚度的组合测量装置,包括固定在底板(1)上的输送机构(6)、透光测量机构(2)、厚度测量机构(3)、力测量机构(4)和牵引卷绕机构(5),其特征在于:织物出输送机构(6)后进入透光测量机构(2),该透光测量机构(2)包括固定在底板(1)上的用于防止光线入射进来的暗箱(25),在暗箱(25)两侧分别设有处于随意平衡态的第一托辊(23)和第二托辊(24),织物绕经第一托辊(23)后进入暗箱(25),出暗箱(25)后绕经第二托辊(24)出透光测量机构(2),在暗箱(25)内设有平行光源(21)及光敏元件(22),平行光源(21)位于光敏元件(22)的对侧,织物由平行光源(21)与光敏元件(22)之间通过;织物出透光测量机构(2)后进入厚度测量机构(3),该厚度测量机构(3)包括至少一对用于感应通过的织物的厚度以获得织物的厚度不匀值的电容极板(31)和第三托辊(32),织物由电容极板(31)间穿过后绕经第三托辊(32)出厚度测量机构(3)进入力测量机构(4);力测量机构(4)包括摩擦辊(40)、压针(41)、前托针(42)、后托针(43)、第一力传感器(44)、第二力传感器(45)、第三力传感器(46)、限位辊(47)、双托辊(48)和压辊(49),织物进入力测量机构(4)后依次绕经限位辊(47)、一对双托辊(48)及至少四个压辊(49)后出力测量机构(4),相邻两个压辊(49)组成一组导布压辊组,固定不动的摩擦辊(40)位于相邻两组导布压辊组之间;由压针(41)对位于一对双托辊(48)间的织物形成下压力,压针(41)固接在第一力传感器(44)上,通过第一力传感器(44)获得织物的抗弯力,织物绕经一组导布压辊组后,由前托针(42)对该组导布压辊组上的织物形成上托力,前托针(42)固接在第二力传感器(45)上,通过第二力传感器(45)获得输入摩擦辊(40)前的织物的松边张力,织物出该组导布压辊组后再绕经摩擦辊(40)后进入相邻一组的导布压辊组,由后托针(43)对该导布压辊组上的织物形成上托力,后托针(43)固接在第三力传感器(46)上,通过第三力传感器(46)获得经摩擦辊(40)后的织物的紧边张力,根据所获得紧边张力、松边张力及织物覆盖在摩擦辊(40)表面的弧段相对摩擦辊(40)截面圆中心的中心角,获得织物与摩擦辊(40)的摩擦系数;织物出力测量机构(4)后进入牵引卷绕机构(5)收布。
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