[发明专利]基于多步双向De Bruijn图的变长kmer查询的顶点扩展方法有效

专利信息
申请号: 201310670752.4 申请日: 2013-12-10
公开(公告)号: CN103699819A 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 孟金涛;张慧琳;彭丰斌;魏彦杰;冯圣中 申请(专利权)人: 深圳先进技术研究院
主分类号: G06F19/22 分类号: G06F19/22
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 沈祖锋;郝明琴
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及基因测序技术领域,提供了一种基于多步双向De Bruijn图的变长kmer查询的顶点扩展方法,包括:步骤A:读取测序数据源文件,构造多步双向De Bruijn图;步骤B:在所述多步双向De Bruijn图中对分叉顶点的变长kmer进行构造和统计;步骤C:在所述多步双向De Bruijn图中基于变长kmer查询的顶点扩展。本发明只选取一些分叉的顶点构建非常少的一些变长kmer,然后对这些分叉顶点进行定向解耦,无需对每种kmer长度都去构建一个De Bruijn图,可以方便快速地解决所有长度小于序列长度的repeat,最大化contig的长度和质量。
搜索关键词: 基于 双向 de bruijn 变长 kmer 查询 顶点 扩展 方法
【主权项】:
一种基于多步双向De Bruijn图的变长kmer查询的顶点扩展方法,其特征在于,包括:步骤A:读取测序数据源文件,构造多步双向De Bruijn图;步骤B:在所述多步双向De Bruijn图中对分叉顶点的变长kmer进行构造和统计;步骤C:在所述多步双向De Bruijn图中基于变长kmer查询的顶点扩展。
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