[发明专利]基于成像光谱仪的超越探测器动态范围探测的方法有效
申请号: | 201310671255.6 | 申请日: | 2013-12-11 |
公开(公告)号: | CN103698011A | 公开(公告)日: | 2014-04-02 |
发明(设计)人: | 王淑荣;薛庆生;李占峰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01J3/30 | 分类号: | G01J3/30 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 王丹阳 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: |
基于成像光谱仪的超越探测器动态范围探测的方法,涉及遥感成像光谱仪空间探测领域,解决了现有分波段(通道)探测法存在的过程复杂、研制成本高的问题,该方法为:步骤i:确定空间探测目标的光谱辐射分布特性L(λ);步骤ii:对成像光谱仪光学系统中的各光学元件进行选择性镀膜;步骤iii:计算成像光谱仪中的探测器对应各光谱信号输出电子数的理论值Se(λ);步骤iv:在成像光谱仪的光学系统中加入具有特定光谱透过率功能的滤光片,滤光片的理想光谱透过率τfilter(λ)为:k为比例系数,0.8 |
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搜索关键词: | 基于 成像 光谱仪 超越 探测器 动态 范围 探测 方法 | ||
【主权项】:
基于成像光谱仪的超越探测器动态范围探测的方法,其特征在于,该方法的条件和步骤如下:步骤i:确定空间探测目标的光谱辐射分布特性,即成像光谱仪入瞳处的光谱辐亮度分布L(λ);步骤ii:对成像光谱仪光学系统中的各光学元件进行选择性镀膜,反射光学元件镀紫外增反膜,透射光学元件镀紫外增透膜;步骤iii:利用成像光谱仪入瞳处的光谱辐亮度分布L(λ)测量得到成像光谱仪光学系统的紫外光谱信号的传输效率τo(λ)及探测器的相关参数,在保证弱紫外光谱信号能探测的前提下,设计积分时间tint,计算成像光谱仪中的探测器对应各光谱信号输出电子数的理论值Se(λ);步骤iv:在成像光谱仪的光学系统中加入具有特定光谱透过率功能的滤光片,滤光片的理想光谱透过率τfilter(λ)为: τ filter ( λ ) = 1 S e ( λ ) ≤ kS SAT k S SAT S e ( λ ) S e ( λ ) > kS SAt 其中,k为比例系数,0.8
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