[发明专利]基于成像光谱仪的超越探测器动态范围探测的方法有效

专利信息
申请号: 201310671255.6 申请日: 2013-12-11
公开(公告)号: CN103698011A 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 王淑荣;薛庆生;李占峰 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01J3/30 分类号: G01J3/30
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 王丹阳
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 基于成像光谱仪的超越探测器动态范围探测的方法,涉及遥感成像光谱仪空间探测领域,解决了现有分波段(通道)探测法存在的过程复杂、研制成本高的问题,该方法为:步骤i:确定空间探测目标的光谱辐射分布特性L(λ);步骤ii:对成像光谱仪光学系统中的各光学元件进行选择性镀膜;步骤iii:计算成像光谱仪中的探测器对应各光谱信号输出电子数的理论值Se(λ);步骤iv:在成像光谱仪的光学系统中加入具有特定光谱透过率功能的滤光片,滤光片的理想光谱透过率τfilter(λ)为:k为比例系数,0.8发明使高量级动态范围的大气散射信号通过成像光谱仪光学系统后降低到探测器像面能探测的动态范围上,实现了超越探测器动态范围的探测,可靠性高、研制成本低。
搜索关键词: 基于 成像 光谱仪 超越 探测器 动态 范围 探测 方法
【主权项】:
基于成像光谱仪的超越探测器动态范围探测的方法,其特征在于,该方法的条件和步骤如下:步骤i:确定空间探测目标的光谱辐射分布特性,即成像光谱仪入瞳处的光谱辐亮度分布L(λ);步骤ii:对成像光谱仪光学系统中的各光学元件进行选择性镀膜,反射光学元件镀紫外增反膜,透射光学元件镀紫外增透膜;步骤iii:利用成像光谱仪入瞳处的光谱辐亮度分布L(λ)测量得到成像光谱仪光学系统的紫外光谱信号的传输效率τo(λ)及探测器的相关参数,在保证弱紫外光谱信号能探测的前提下,设计积分时间tint,计算成像光谱仪中的探测器对应各光谱信号输出电子数的理论值Se(λ);步骤iv:在成像光谱仪的光学系统中加入具有特定光谱透过率功能的滤光片,滤光片的理想光谱透过率τfilter(λ)为: τ filter ( λ ) = 1 S e ( λ ) kS SAT k S SAT S e ( λ ) S e ( λ ) > kS SAt 其中,k为比例系数,0.8
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