[发明专利]芯片中电路的时序测试方法、装置及RTL仿真设备在审
| 申请号： | 201310673808.1 | 申请日： | 2013-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN104698370A | 公开（公告）日： | 2015-06-10 |
| 发明（设计）人： | 陆炳华 | 申请（专利权）人： | 展讯通信（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3177 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 吴靖靓;骆苏华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种芯片中电路的时序测试方法、装置及RTL仿真设备。所述方法包括：接收测试所述芯片中电路的时序的控制指令，并发送与所述控制指令对应的测试信号至待测试电路，所述测试信号与一条时序约束信息相对应，所述待测试电路的时序受所述时序约束信息的约束；获取所述待测试电路的测试结果；判断所述测试结果与预设的结果是否一致，并输出所判断的结果。应用所述方法可以提高测试的覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 电路 时序 测试 方法 装置 rtl 仿真 设备 | ||
【主权项】：
一种芯片中电路的时序测试方法，其特征在于，包括：接收测试所述芯片中电路的时序的控制指令，并发送与所述控制指令对应的测试信号至待测试电路，所述测试信号与一条时序约束信息相对应，所述待测试电路的时序受所述时序约束信息的约束；获取所述待测试电路的测试结果；判断所述测试结果与预设的结果是否一致，并输出所判断的结果。
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