[发明专利]纹理特征提取方法及装置

摘要

本发明提供了一种纹理特征提取方法，包括：获取输入的图像，将所述输入的图像转换到IHS色彩空间中；计算所述转换到IHS色彩空间中图像的简约双四元数矩阵；获取预设的多通道滤波器函数矩阵；计算所述简约双四元数矩阵与所述多通道滤波器函数矩阵的简约双四元数卷积得到卷积矩阵；查找所述卷积矩阵中邻接差值小于差值阈值的像素坐标，根据所述查找到的像素坐标生成纹理特征。此外，还提供了一种纹理特征提取装置。上述纹理特征提取方法和装置能够降低纹理特征提取的误检率。

主权项

一种纹理特征提取方法，所述方法包括：获取输入的图像，将所述输入的图像转换到IHS色彩空间中，根据以下公式将RGB图像转换到IHS色彩空间中：I＝R+G+B$H=\left\{\begin{array}{ccc}(G-B)/(I-3B),& if& B=min(R,G,B)\\ (B-R)/(I-3R)+1,& if& R=min(R,G,B)\\ (R-G)/(I-3G)+2,& if& G=min(R,G,B)\end{array}\right.$$S=\left\{\begin{array}{ccc}(I-3B)/I,& if& 0\≤H\≤1\\ (I-3R)/I,& if& 1\≤H\≤2\\ (I-3G)/I,& if& 2\≤H\≤3\end{array}\right.$其中，R、G、B为每个像素点的三颜色通道值；计算所述转换到IHS色彩空间中图像的简约双四元数矩阵；获取预设的多通道滤波器函数矩阵；计算所述简约双四元数矩阵与所述多通道滤波器函数矩阵的简约双四元数卷积得到卷积矩阵；当卷积矩阵中的一个像素点的邻接差值小于差值阈值时，则所述像素点处于同一纹理上，查找处于同一纹理上的像素坐标，根据所述查找到的像素坐标生成纹理特征。