[发明专利]一种主动式活性炭法中222Rn的探测效率测量方法有效
申请号: | 201310676461.6 | 申请日: | 2013-12-12 |
公开(公告)号: | CN103913761A | 公开(公告)日: | 2014-07-09 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军63653部队 |
主分类号: | G01T1/167 | 分类号: | G01T1/167;G01T1/36 |
代理公司: | 乌鲁木齐新科联知识产权代理有限公司 65107 | 代理人: | 欧咏 |
地址: | 841700 新疆维吾*** | 国省代码: | 新疆;65 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供的一种主动式活性炭法中222Rn的探测效率测量方法,通过探测得到活性炭盒中222Rn的探测效率和222Rn进出口计数相对差异关系曲线,利用该曲线方便、快捷和准确地得到不同222Rn进出口计数相对差异下活性炭盒的探测效率,同时利用该方法得到的活性炭盒探测效率不受222Rn吸附量大小的影响,探测效率快捷、精准。 | ||
搜索关键词: | 一种 主动 活性炭 sup 222 rn 探测 效率 测量方法 | ||
【主权项】:
一种主动式活性炭法中222Rn的探测效率测量方法,其特征在于:分步实施;步骤1取样:1)实验前将活性炭盒内的活性炭放入120℃的烘炉内,加热8h以上进行烘干解吸;2)取样系统进气口和出气口连接氡室,使抽出来未被活性炭盒吸附的氡气返回氡室;其中氡室内的氡浓度:1100Bq/m3;温度:32℃;湿度:25%;气压:87.7kPa,取样时流量为0.9m3/h;步骤2探测效率:取样后将活性炭盒放置3h以上,待222Rn与其子体达到放射性衰变平衡时将活性炭盒置于HPGeγ谱仪上测量,利用下式(1)和下式(2)计算得到活性炭盒内222Rn的探测效率和222Rn在活性炭盒中的进出气口计数相对差异;(1)计算探测效率: 式中:ε为探测效率;N为γ谱仪的全能峰净计数;A为活性炭盒吸附的222Rn活度;ΔC为取样前后氡室内的氡浓度变化;V为氡室体积;Pγ为γ射线发射几率;t为测量时间;为了得到不同吸附时间下,222Rn在活性炭盒中进气口和出气口计数相对差异,分别将活性炭盒的进气口端和出气口端置于探测器上测量,定义222Rn的进出口计数相对差异由下式(2)计算得到:式中:η为222Rn在活性炭盒中进出口计数相对差异;N进为进气口端在探测器上时得到的计数;N出为出气口端在探测器上时得到的计数;步骤3得到探测效率:根据222Rn的探测效率和进出口计数相对差异之间的关系,进行最小二乘法拟合,两者成线性关系;活性炭盒对222Rn取样后,分析HPGeγ谱仪对222Rn在活性炭盒中的进出口计数相对差异,利用上述拟合曲线,计算得到222Rn的探测效率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军63653部队,未经中国人民解放军63653部队许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310676461.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- <100>N<SUP>-</SUP>/N<SUP>+</SUP>/P<SUP>+</SUP>网状埋层扩散抛光片
- 零50电力L<SUP>2</SUP>C<SUP>2</SUP>专用接口<SUP></SUP>
- 高保真打印输出L<SUP>*</SUP>a<SUP>*</SUP>b<SUP>*</SUP>图像的方法
- 在硅晶片上制备n<sup>+</sup>pp<sup>+</sup>型或p<sup>+</sup>nn<sup>+</sup>型结构的方法
- <sup>79</sup>Se、<sup>93</sup>Zr、<sup>107</sup>Pd联合提取装置
- <sup>79</sup>Se、<sup>93</sup>Zr、<sup>107</sup>Pd联合提取装置
- <sup>182</sup>Hf/<sup>180</sup>Hf的测定方法
- 五环[5.4.0.0<sup>2</sup>,<sup>6</sup>.0<sup>3</sup>,<sup>10</sup>.0<sup>5</sup>,<sup>9</sup>]十一烷二聚体的合成方法
- 含烟包装袋中Li<sup>+</sup>、Na<sup>+</sup>、NH<sub>4</sub><sup>+</sup>、K<sup>+</sup>、Mg<sup>2+</sup>、Ca<sup>2+</sup>离子的含量测定方法
- <base:Sup>68