[发明专利]用于检测缺陷像素的设备和方法有效
| 申请号： | 201310681177.8 | 申请日： | 2013-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN103888690B | 公开（公告）日： | 2018-08-03 |
| 发明（设计）人： | 平野真理子 | 申请（专利权）人： | 韩华泰科株式会社 |
| 主分类号： | H04N5/367 | 分类号： | H04N5/367 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 王兆赓;李云霞 |
| 地址： | 韩国庆尚*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 公开了一种用于检测缺陷像素的设备和方法。所述设备包括：计算器，计算包括围绕目标像素并排列在多个预定方向中的一个方向上的邻近像素的邻近像素组的像素值的梯度；识别单元，从所述多个预定方向之中识别由计算器计算的梯度最小的方向；确定器，基于目标像素的像素值和包括在邻近像素组中的邻近像素的像素值之间的差，确定目标像素是否为缺陷像素，所述邻近像素在由识别单元识别的方向上与目标像素颜色相同并与目标像素相邻。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 缺陷 像素 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测缺陷像素的设备，所述设备包括：计算器，计算包括围绕目标像素并排列在多个预定方向中的一个方向上的邻近像素的邻近像素组的像素值的梯度；识别单元，从所述多个预定方向之中识别由计算器计算的梯度最小的方向；以及确定器，基于目标像素的像素值和包括在邻近像素组中的在由识别单元识别的方向上与目标像素相邻且与目标像素颜色相同的第一邻近像素的像素值之间的差，确定目标像素是否为缺陷像素，其中，计算器基于针对在预定的方向上与目标像素相邻的邻近像素组的彩色像素的组合分别计算的像素值之间的差来计算梯度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于韩华泰科株式会社，未经韩华泰科株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310681177.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
