[发明专利]样品分析装置无效

专利信息
申请号: 201310682582.1 申请日: 2013-12-12
公开(公告)号: CN103884539A 公开(公告)日: 2014-06-25
发明(设计)人: 正村美树夫 申请(专利权)人: 日本光电工业株式会社
主分类号: G01N1/14 分类号: G01N1/14;G01N35/10;B08B9/02
代理公司: 北京泛诚知识产权代理有限公司 11298 代理人: 陈波;朱弋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种样品分析装置,其在检验人员进行样品吸引过程中不会使吸引管发生塑性变形,并能够有效进行吸引管的清洗的小型廉价装置。该样品分析装置具有:由超弹性金属制成并从样品容器中吸引样品的吸引管(34);对所吸引的样品进行分析的分析部;配置于箱体内的预定位置,将上述吸引管(34)从研钵状开口部引导至内部进行清洗的半固定式清洗部(40);和使上述吸引管(34)移动/停止,至少使该吸引管在从上述样品容器吸引样品的第一位置和与上述清洗部(40)的开口部对应的第二位置之间移动的移动/停止机构。
搜索关键词: 样品 分析 装置
【主权项】:
一种样品分析装置,其特征在于,具有:吸引管,所述吸引管由超弹性金属制成,用于从样品容器吸引样品;分析部,所述分析部对所吸引的样品进行分析;清洗部,所述清洗部配置于箱体内的预定位置,将所述吸引管从研钵状开口部引导至内部进行清洗;和移动/停止机构,所述移动/停止机构使所述吸引管移动/停止,至少使所述吸引管在从所述样品容器吸引样品的第一位置和与所述清洗部的开口部对应的第二位置之间移动。
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