[发明专利]一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法在审
| 申请号： | 201310684078.5 | 申请日： | 2013-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN104713859A | 公开（公告）日： | 2015-06-17 |
| 发明（设计）人： | 李留成;多丽萍;金玉奇;唐书凯;李国富;王元虎;于海军;汪健;王增强;曹靖 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人： | 刘阳 |
| 地址： | 116023 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用低分辨率近红外荧光谱测量HF高振动态粒子数分布的技术，它基于自发辐射荧光光谱技术，是一种测量HF分子高振动激发态能级粒子数分布的新方法。本发明主要应用于化学激光测试诊断技术领域，是为了简化在HF化学激光系统中测量振动激发态粒子数分布情况的过程而产生的，本发明只需要将HF基频自发辐射荧光光谱的几条P支谱线强度进行简单的加和即可，具有简单方便、精度高、非侵入性等特点。利用本发明，可以实现HF化学激光器中高振动激发态各个能级粒子数分布的快速测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 分辨率 红外 荧光 光谱 测量 hf 振动 粒子 分布 方法 | ||
【主权项】：
一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法，其特征在于：（1）利用近红外光谱仪测得HF高振动态自发辐射荧光光谱，得到HF高振动态v=3,4,5,6,7的粒子数分布情况；（2）仅需读取各个振转谱带P支的P1‑P6六条谱线，适合R支谱线与P支谱线部分重叠的低分辨率情况。
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