[发明专利]一种测试装置及电子导体中离子电导率的测试方法在审
| 申请号： | 201310691219.6 | 申请日： | 2013-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN104714096A | 公开（公告）日： | 2015-06-17 |
| 发明（设计）人： | 孙公权;夏章讯;王素力;姜鲁华 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人： | 马驰 |
| 地址： | 116023 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 一种测试装置，包括二块相向设置的板状极板、于二块极板间设有二张Nafion膜，于极板和Nafion膜间设有碳纸或碳布；二块极板通过导线分别与电化学工作站或电阻率测试仪相连。本发明弥补了现有技术的空白，实现了电极及其它电子导体中电子导电性与离子导电性的有效地分离，测试方法准确、高效、适用范围广，测试材料包括碳材料、金属材料、半导体材料以及均相、多孔等多种电子导体。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 装置 电子 导体 离子 电导率 方法 | ||
【主权项】：
一种测试装置，其特征在于：包括二块相向设置的板状极板、于二块极板间设有二张Nafion膜，于极板和Nafion膜间设有碳纸或碳布；二块极板通过导线分别与电化学工作站或电阻率测试仪相连。
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