[发明专利]一种高比容电极薄膜及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201310694326.4 申请日: 2013-12-18
公开(公告)号: CN103680994A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 杨亚杰;袁文涛;杨晓洁;杨文耀;徐建华;蒋亚东 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01G11/32 分类号: H01G11/32;H01G11/86
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 谭新民
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明实施例公开了一种制造高比容电极薄膜的方法,包括:采用LB膜法沉积氧化石墨烯LB膜,并将其还原为还原氧化石墨烯;然后采用电化学方法在还原氧化石墨烯表面沉积金属氧化物层;最后采用化学气相聚合沉积方法在金属氧化物上沉积导电聚合物层,从而获得一种高比容复合电极薄膜。该方法制备的高比容电极薄膜中,以还原氧化石墨烯为基体,具有较高的比表面积,然后分别沉积金属氧化物和导电聚合物,使得电极薄膜材料同时具有双电层电容和赝电容,从而可以大大增加电极的比容量。
搜索关键词: 一种 比容 电极 薄膜 及其 制造 方法
【主权项】:
一种制造高比容电极薄膜的方法,其特征在于,包括:步骤A:将氧化石墨烯材料分散于有机溶剂中,获得氧化石墨烯分散液;步骤B:将所述氧化石墨烯分散液铺展于LB膜槽中的去离子水表面,并采用LB成膜方法将氧化石墨烯转移沉积至基片表面;步骤C:将所述基片上的氧化石墨烯还原为还原氧化石墨烯;步骤D:用电化学沉积方法在所述还原氧化石墨烯表面沉积金属氧化物;步骤E:用化学气相沉积方法在所述金属氧化物层上沉积导电聚合物。
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