[发明专利]一种支持全卡射频测试的自测装置及其使用方法

摘要

一种支持全卡射频测试的自测装置及其使用方法，涉及非接触式IC卡技术领域。本发明自测装置包括依次相互连接的支持自测功能的全卡、测试基台和测试软件平台。所述全卡包括天线网络、NFC芯片和CPU智能卡。其结构特点是，所述NFC芯片包括接收单元、发射单元、天线单元、电源单元、锁相环单元、控制单元、存储单元、接口单元和自动测试辅助单元。接收单元、锁相环单元、发射单元和天线单元依次连接形成环路组成射频单元，射频单元发送和接收信号符合ISO14443/FeliCa协议规范。所述控制单元分别与接收单元、锁相环单元、发射单元、自动测试辅助单元、存储单元、接口单元和电源单元相互连接。本发明能有效减少全卡批量测试的测试时间，具有测试简单、节约成本的特点。

主权项

一种支持全卡射频测试的自测装置，它包括依次相互连接的支持自测功能的全卡（50）、测试基台（51）和测试软件平台（52），所述全卡（50）包括天线网络（B）、NFC芯片（A）和CPU智能卡（C），其特征在于，所述NFC芯片（A）包括接收单元（1）、发射单元（3）、天线单元（4）、电源单元（9）、锁相环单元（2）、控制单元（6）、存储单元（7）、接口单元（8）和自动测试辅助单元（5）；接收单元（1）、锁相环单元（2）、发射单元（3）和天线单元（4）依次连接形成环路组成射频单元（10），射频单元（10）发送和接收信号符合ISO 14443/FeliCa协议规范；所述控制单元（6）分别与接收单元（1）、锁相环单元（2）、发射单元（3）、自动测试辅助单元（5）、存储单元（7）、接口单元（8）和电源单元（9）相互连接；所述自动测试辅助单元（5），用于NFC芯片（A）内部节点和芯片功能检测；所述接口单元（8），用于对NFC芯片（A）进行控制和数据交换；所述存储单元（7），用于存储NFC芯片（A）的模式配置、流程和状态控制，以及与NFC芯片（A）外部进行交换的各种数据；所述锁相环单元（2），用于产生片上13.56MHz信号用作发射信号载波，也是NFC芯片（A）工作时钟来源；所述电源单元（9），为NFC芯片（A）内部电源整形，为接收单元（1）、发射单元（3）、锁相环单元（2）、控制单元（6）、存储单元（7）、接口单元（8）和自动测试辅助单元（5）提供稳定电压源；所述天线单元（4），采用线圈与调谐电容阵列并联结构；天线单元（4）将外部场信号耦合到线圈上，作为接收单元（1）输入信号；天线单元（4）将发射单元（3）发射信号通过线圈辐射出去，使得外部读卡器能接收到该发射信号；所述发射单元（3），用于将控制单元（6）送出的数字信号转换为符合ISO 14443/FeliCa协议规范的射频信号，并驱动天线单元（4）将射频信号发射出去；所述接收单元（1），用于将天线单元（4）感应到的射频信号转换为数字信号并传递给控制单元（6）；所述控制单元（6），用于控制NFC芯片（A）内部状态转换，执行NFC芯片（A）功能相关的各种流程，以及数字信号处理。