[发明专利]基于霍尔传感器列阵的PCB短路检测方法及检测装置

摘要

本发明涉及故障检测技术领域，公开了基于霍尔传感器列阵的PCB短路检测方法及检测装置。其方法包括：霍尔传感器列阵中各传感器按周期旋转并采集周期采集磁场数据。上位分析机通过调整检测台与霍尔传感器列阵的水平位置分别采集正常工作的PCB板的冷板磁场数据、激励时的磁场数据、以及待测PCB板激励时的磁场数据，并进行图像的合成处理，获得三种情况下的磁场分布矩阵图，再对磁场分布矩阵图进行归一化处理并映射到灰度图上，获得故障位置磁场灰度图，最后对灰度图上的点作阈值差，获得故障位置分布图，以判定PCB板上故障位置出现的概率。应用该方案可解决多个地方出现故障时准确判断故障位置，提高检测的效率，降低成本与制作工艺。

主权项

基于霍尔传感器列阵的PCB短路检测方法，其特征在于，包括：A、将工作正常的PCB电路板固定在检测装置的检测台上，将霍尔传感器列阵对准所述工作正常的PCB电路板，记录所述霍尔传感器列阵当前的位置为初始位置；B、开启所述霍尔传感器列阵，所述霍尔传感器列阵中各传感器按照预设的周期旋转并采集磁场数据，通过调整所述检测台与所述霍尔传感器列阵的水平位置，并根据所述采集的磁场数据，依次获得未偏移的磁场分布矩阵图、第一偏移的磁场分布矩阵图、第二偏移的磁场分布矩阵图与第三偏移的磁场分布矩阵图；C、叠加合成所述未偏移的磁场分布矩阵图、所述第一偏移的磁场分布矩阵图、第二偏移磁场分布矩阵图以及所述第三偏移的磁场分布矩阵图，获得第一磁场分布矩阵图；D、对所述工作正常的PCB电路板添加激励信号，重复步骤B至C，获得第二磁场分布矩阵图；E、将待测的PCB电路板固定在检测装置的检测台上，并添加所述激励信号，再将所述霍尔传感器列阵恢复至所述初始位置，重复步骤B至C，获得第三磁场分布矩阵图；F、将所述第二磁场分布矩阵图减去所述第一磁场分布矩阵图，获得第四磁场分布矩阵图，对所述第四磁场分布矩阵图进行归一化处理并映射到灰度图上，获得第一磁场分布灰度图；G、将所述第三磁场分布矩阵图减去所述第一磁场分布矩阵图，获得第五磁场分布矩阵图，对所述第五磁场分布矩阵图进行归一化处理并映射到灰度图上，获得第二磁场分布灰度图；H、将第二磁场分布灰度图减去第一磁场分布灰度，获得所述待测PCB电路板的故障磁场灰度图，对所述故障磁场灰度图上的每一个点作阈值差， 获得故障位置分布图，以便于检测人员根据所述故障位置分布图，获得所述待测的PCB电路板的检测结果。