[发明专利]一种荧光分析仪检量线的制作及校准方法

摘要

本发明公开了一种荧光分析仪检量线的制作及校准方法，包括高、中、低成分批次样品的选取、重复测试、最终成分确认；检量线的制作、检量线的中成分的校准以及检量线的高、低成分的校准。采用上述方法后，上述高、中、低成分批次样品可直接从各自生产线中的大批量产品中选取，取样方便，成本低，可保证后续3-10年内每班次的自动校准要求，为产线产品的配方校准及纠偏提供了统一的测试标准，测试准确。另外，检量线校准时，先校准中成分的批次样品，使每次校准标准一致，减少了检量线的漂移几率。

主权项

一种荧光分析仪检量线的制作及校准方法，其特征在于：包括以下步骤：第一步，高、中、低成分批次样品的选取：从产线高、中、低成分的不同批次的批量品中各选取2‑3份与相应的标准样品进行测试比对后，各选取1‑2批次；第二步，高、中、低成分批次样品的重复测试：将第一步中选取的高、中、低成分批次样品每班次至少测试一次，连续测试至少20个班次；第三步，高、中、低成分批次样品的最终成分确认：将第二步中高、中、低各成分批次样品的成分测试值取总测试次数的平均值，并将该平均值作为各成分的最终成分；第四步，检量线的制作；将第三步中的高、中、低成分的最终成分连线后，即为检量线；第五步，检量线的中成分的校准：使用第一步中选取的一个中成分的批次样品每班次对第四步中的检量线的中成分进行校准；第六步，检量线的高、低成分的校准：使用第一步中选取的高、低成分的批次样品每班次对第四步中的检量线的对应的高、低成分进行校准。