[发明专利]一种检测微通道板暗计数的装置无效

专利信息
申请号: 201310704575.7 申请日: 2013-12-19
公开(公告)号: CN103713306A 公开(公告)日: 2014-04-09
发明(设计)人: 刘永安;盛立志;刘哲;李林森;赵宝升 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01T1/00 分类号: G01T1/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 倪金荣
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提出了一种检测微通道板暗计数的装置,包括用于测试MCP性能的真空腔室、电极引线、光子计数成像探测器、电子读出电路、数据采集与处理单元以及电源;光子计数成像探测器设置在真空腔室内;电子读出电路、数据采集与处理单元依次与真空腔室连接;电源与电极引线、光子计数成像探测器连接。本发明检测微通道板暗计数的装置,利用“光子计数成像技术”能够同时得到MCP暗计数的数量、位置分布和脉冲高度分布(PHD)等信息,为光子计数成像探测、粒子探测和微光成像等应用提供筛选低噪声MCP的技术。
搜索关键词: 一种 检测 通道 暗计 装置
【主权项】:
一种检测微通道板暗计数的装置,其特征在于:包括用于测试MCP性能的真空腔室、电极引线、光子计数成像探测器、电子读出电路、数据采集与处理单元以及电源;所述光子计数成像探测器设置在真空腔室内;电子读出电路、数据采集与处理单元依次与真空腔室连接;电源与电极引线、光子计数成像探测器连接。
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