[发明专利]一种金属分析仪在审
申请号: | 201310707928.9 | 申请日: | 2013-12-20 |
公开(公告)号: | CN103712996A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 刘和超 | 申请(专利权)人: | 沈阳洪达信息科技有限公司 |
主分类号: | G01N23/00 | 分类号: | G01N23/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 110141 辽宁*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 一种金属分析仪,包括如下结构:射线发生装置发出射线轰击待分析金属,底片接收成像加以分析计算,粒子吸收装置吸收多余粒子防止辐射污染。本发明的优点:金属分析仪性能好。 | ||
搜索关键词: | 一种 金属 分析 | ||
【主权项】:
一种金属分析仪,其特征在于:包括如下结构:射线发生装置发出射线轰击待分析金属,底片接收成像加以分析计算,粒子吸收装置吸收多余粒子防止辐射污染。
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