[发明专利]一种液晶面板及其图像残留的检测方法有效
申请号: | 201310713572.X | 申请日: | 2013-12-20 |
公开(公告)号: | CN103676239A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 张岳妍;杨一峰;李建邦 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 广东广和律师事务所 44298 | 代理人: | 刘敏 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了一种液晶面板,包括成品区和测试区,测试区设置RGB测试块和空白测试块,所述RGB测试块由红色、绿色和蓝色三种颜色的光阻叠加而成,所述RGB测试块与成品区的液晶面板的电阻和金属离子浓度相同,通过对RGB测试块进行电阻和金属离子浓度检测,以判定成品区的液晶面板的相关指标是否达标。本发明还提供了对所述液晶面板进行图像残留检测的方法。通过本发明的液晶面板和影响残留的检测方法,通过小样测试块提前对液晶面板的电阻和金属离子浓度进行检测,以判定成品区的液晶面板上图像残留是否超标,大大缩短了液晶面板的图像残留的测试时间,明显地提高液晶面板的检测效率,提高了液晶面板的良品率,优化了产品质量,呈现优质的显示效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 液晶面板 及其 图像 残留 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种液晶面板,其包括成品区和测试区,其特征在于:在测试区设置RGB测试块和空白测试块,所述RGB测试块由红色、绿色和蓝色三种颜色的光阻叠加而成,所述RGB测试块与成品区的液晶面板的电阻和金属离子浓度相同,通过对RGB测试块进行电阻和金属离子浓度检测,以判定成品区的液晶面板的相关指标是否达标。
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