[发明专利]一种砝码表面吸附质量的测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310713605.0 申请日: 2013-12-20
公开(公告)号: CN103697977A 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 任孝平;王健;蔡常青;姚弘;丁京鞍;钟瑞麟 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01G17/00 分类号: G01G17/00
代理公司: 北京思创毕升专利事务所 11218 代理人: 郭韫
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种砝码表面吸附质量的测量装置及方法,属于计量领域。本装置包括实心圆柱体砝码、纺锤形砝码及质量测量装置;所述质量测量装置包括真空腔体和设置在真空腔体内的质量比较仪和砝码旋转托盘;所述纺锤形砝码与实心圆柱体砝码的体积相同、质量值相同,但表面积不同;所述纺锤形砝码为多层结构,包括至少2个圆盘,相邻两个圆盘之间通过小圆柱体连接,所有圆盘和小圆柱体均同轴线设置。本发明考虑了试验过程中体积参数对测量结果的影响,消除了体积参数所带来的空气浮力修正的不同,获得了精确的表面吸附质量测量结果。
搜索关键词: 一种 砝码 表面 吸附 质量 测量 装置 方法
【主权项】:
一种砝码表面吸附质量的测量装置,其特征在于:所述测量装置包括实心圆柱体砝码、纺锤形砝码及质量测量装置;所述质量测量装置包括真空腔体和设置在真空腔体内的质量比较仪和砝码旋转托盘;所述纺锤形砝码与实心圆柱体砝码的体积相同、质量值相同,但表面积不同;所述纺锤形砝码为多层结构,包括至少2个圆盘,相邻两个圆盘之间通过小圆柱体连接,所有圆盘和小圆柱体均同轴线设置。
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