[发明专利]集成电路充电驱动器及其制造方法有效
申请号: | 201310713868.1 | 申请日: | 2013-12-20 |
公开(公告)号: | CN103681513A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 汪义;曾蕴浩;王炜;胡舜涛;王强;罗菊亚;张宏林 | 申请(专利权)人: | 上海岭芯微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/8249 | 分类号: | H01L21/8249;H01L27/06 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆勍 |
地址: | 200233 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种集成电路充电驱动器及其制造方法。该制造方法包括:提供基板,基板是p+/p-型外延基板并用作PNP管的集电极,基板包含PNP区和NMOSFET区;在基板的NMOSFET区中形成n型埋层;分别在PNP区的两侧和NMOSFET区的两侧形成p型下隔离;沉积n-外延,n-外延由p型下隔离隔断以形成n-外延岛;在p型下隔离上形成p型上隔离,且n型埋层位于NMOSFET的p阱下方;在n-外延岛上形成多个n+区,PNP区中的n+区用作基极且NMOSFET区中的n+区分别用作源极和漏极;在n-外延岛上形成多个p+区,PNP区中的p+区用作发射极,且NMOSFET区中的p+区用作p阱;以及在NMOSFET区上进一步形成栅极。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 充电 驱动器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种集成电路充电驱动器的制造方法,其特征在于,所述集成电路充电驱动器集成有PNP管和NMOSFET管,该制造方法包括:a.提供基板,所述基板是p+/p‑型外延基板并用作所述PNP管的集电极,所述基板包含PNP区和NMOSFET区;b.在所述基板的NMOSFET区中形成n型埋层;c.分别在所述PNP区的两侧和所述NMOSFET区的两侧形成p型下隔离;d.沉积n‑外延,所述n‑外延由所述p型下隔离隔断以形成n‑外延岛;e.在所述p型下隔离上形成p型上隔离,所述p型上隔离在所述NMOSFET区中进一步用作p阱,且所述n型埋层位于NMOSFET的p阱下方;f.在所述n‑外延岛上形成多个n+区,所述PNP区中的n+区用作基极且所述NMOSFET区中的n+区分别用作源极和漏极;g.在所述n‑外延岛上形成多个p+区,所述PNP区中的p+区用作发射极以形成所述PNP管,且所述NMOSFET区中的p+区用作p阱;以及h.在所述NMOSFET区上进一步形成栅极,以形成所述NMOSFET管。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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