[发明专利]触摸传感器装置、电子设备、位置计算方法及位置计算程序有效

专利信息
申请号: 201310714147.2 申请日: 2013-12-20
公开(公告)号: CN103885629B 公开(公告)日: 2017-10-13
发明(设计)人: 柳濑滋郎;芳贺浩史 申请(专利权)人: NLT科技股份有限公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041;G06F3/044
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司11291 代理人: 黄志华
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及触摸传感器装置、电子设备、位置计算方法及位置计算程序。本发明计算紧接于判断出触及后受到手掌影响的第一检测位置和消除了手掌影响的准确的第二检测位置,并且基于所述第一检测位置和所述第二检测位置来计算修正值。在从判断出所述触及的时间点到判断出所述触离的时间点的期间中,连续地计算受到手掌影响的第一检测位置,并通过所述修正值进行修正第一检测位置,从而计算出第三检测位置,由此提高在进行拖拉操作时的位置精度。
搜索关键词: 触摸 传感器 装置 电子设备 位置 计算方法 计算 程序
【主权项】:
一种触摸传感器装置,包括:触摸面板,所述触摸面板的阻抗根据具有附随部分的指示体的触摸的存在以及该指示体的触摸位置而发生变化;检测电路,所述检测电路在每个固定时间基于所述触摸面板的所述阻抗输出检测信号;触及判断单元,所述触及判断单元基于从所述检测电路输出的所述检测信号来判断表示所述指示体与所述触摸面板接触的触及;触离判断单元,所述触离判断单元基于从所述检测电路输出的所述检测信号来判断表示所述指示体从所述触摸面板离开的触离;第一位置计算单元,所述第一位置计算单元基于从所述检测电路输出的所述检测信号来计算第一检测位置,所述第一检测位置为受到所述附随部分的影响的所述触摸位置;第二位置计算单元,所述第二位置计算单元基于从所述检测电路输出的所述检测信号来计算第二检测位置,所述第二检测位置为消除了所述附随部分的影响的所述触摸位置;修正值计算单元,所述修正值计算单元基于通过所述第一位置计算单元计算出的所述第一检测位置和所述第二位置计算单元计算出的所述第二检测位置来计算用于获取消除了所述附随部分的影响的所述触摸位置的修正值;以及第三位置计算单元,所述第三位置计算单元在从所述触及判断单元判断出所述触及的时间点到所述触离判断单元判断出所述触离的时间点的期间中,基于从所述检测电路输出的所述检测信号来计算所述第一检测位置,同时使用通过所述修正值计算单元计算出的所述修正值来修正所述第一检测位置,由此计算第三检测位置。
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