[发明专利]芯片故障定位方法、装置及系统有效
| 申请号： | 201310717666.4 | 申请日： | 2013-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN103675641A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 陈华军;齐子初 | 申请（专利权）人： | 龙芯中科技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 100190 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片故障定位方法、装置及系统。本发明芯片故障定位方法，包括：在调试模式下获取调试指令并执行；在测试模式下获取扫描链模式指令；根据所述扫描链模式指令控制芯片的触发器形成扫描链；在所述测试模式下获取测试数据；将所述测试数据输入扫描链中，依次移出所述扫描链中触发器的值；根据移出的触发器的值定位芯片故障位置。本发明提高了故障定位的效率以及准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 故障 定位 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种芯片故障定位方法，其特征在于，所述方法包括：在调试模式下获取调试指令并执行；在测试模式下获取扫描链模式指令；根据所述扫描链模式指令控制芯片的触发器形成扫描链；在所述测试模式下获取测试数据；将所述测试数据输入所述扫描链中，依次移出所述扫描链中触发器的值；根据移出的所述触发器的值定位芯片故障位置。
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