[发明专利]基于双芯片电子标签的加密校验方法有效

专利信息
申请号: 201310717833.5 申请日: 2013-12-23
公开(公告)号: CN103745253A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: 司海涛;高博 申请(专利权)人: 宁波立芯射频股份有限公司
主分类号: G06K19/073 分类号: G06K19/073
代理公司: 宁波市鄞州甬致专利代理事务所(普通合伙) 33228 代理人: 代忠炯
地址: 315000 浙江省宁波*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提出一种基于双芯片电子标签的加密校验方法,它采用了两个射频识别芯片A芯片和B芯片,在A芯片中的EPC区任取a位字符,在B芯片的EPC区任取8-a位字符组成8位字符的密码,并将该密码存入加密区,将A芯片的TID存入到B芯片的用户区,将B芯片的TID存入到A芯片的用户区,作为校验依据,校验时,读取B芯片的TID并与存储在A芯片中的B芯片的TID做比较,而且读取A芯片的TID并与存储在B芯片中的A芯片的TID作比较,如果有一个不相同,则校验失败,不进入输入密码的步骤,如果两个都相同,则可以输入密码。采用这种方法加密等级非常高,理论上密码是不会被破解。
搜索关键词: 基于 芯片 电子标签 加密 校验 方法
【主权项】:
一种基于双芯片电子标签的加密校验方法,其特征在于:它采用了两个射频识别芯片A芯片和B芯片,所述加密校验方法包括以下步骤: 1)、在A芯片中的EPC区任取m位字符,在B芯片的EPC区任取8‑m位字符组成8位字符的密码,并将该密码存入加密区,所述EPC为产品电子编码; 2)、将A芯片的TID存入到B芯片的用户区,将B芯片的TID存入到A芯片的用户区,作为校验依据,其中TID为芯片的芯片身份标识; 3)、输入密码之前先进行校验,校验时,读取B芯片的TID并与存储在A芯片中的B芯片的TID做比较,而且读取A芯片的TID并与存储在B芯片中的A芯片的TID作比较,如果有一个不相同,则校验失败,不进入输入密码的步骤,如果两个都相同,则进入输入密码的步骤; 其中,8≥m≥0。 
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